Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - Couverture souple

Egerton, R.F.

 
9783319398785: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Couverture souple
ISBN 10 : 3319398784 ISBN 13 : 9783319398785
Editeur : Springer, 2016

L'édition de cet ISBN n'est malheureusement plus disponible.

Synopsis

An Introduction to Microscopy.- Electron Optics.- The Transmission Electron Microscope.- TEM Specimens and Images.- The Scanning Electron Microscope.- Analytical Electron Microscopy.- Special Topics.- Appendix: Mathematical Derivations.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Éditeur
Springer
Date d'édition
2016
Langue
anglais
ISBN 10 
3319398784
ISBN 13 
9783319398785
Reliure
Taschenbuch
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Allemagne

Autres éditions populaires du même titre

9783319819860: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Edition présentée

ISBN 10 :  3319819860 ISBN 13 :  9783319819860
Editeur : Springer, 2018
Couverture souple