Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - Couverture souple

Egerton, R.F.

 
9783319819860: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Couverture souple
ISBN 10 : 3319819860 ISBN 13 : 9783319819860
Editeur : Springer, 2018

Synopsis


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À propos de l?auteur

Ray Egerton is Professor Emeritus of Physics at the University of Alberta and at Portland State University. He serves as the Physical Sciences Editor for Micron, The International Research and Review Journal for Microscopy.
Prof. Egerton has published 90 full papers in refereed journals and is the author of Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, (3rd Edition, 2011, Springer). His awards include the Presidential Science Award from the Microbeam Analysis Society, the Distinguished Scientist Award from the Microscopy Society of America, and the Frances Doane Award for service to the Microscopical Society of Canada. He is a fellow of the Royal Society of Canada.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2018
Langue
anglais
ISBN 10 
3319819860
ISBN 13 
9783319819860
Reliure
Broché
Nombre de pages
208
Coordonnées du fabricant
ProductSafety@springernature.com
ProductSafety@springernature.com

Poststr. 9
Darmstadt
64293
Allemagne

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