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CMOS SRAM: CIRCUIT DESIGN AND PARAMETRIC TEST IN NANO-SCALED TECHNOLOGIES (PROCESS-AWARE SRAM DESIGN AND TEST) - Couverture souple

 
9788132202325: CMOS SRAM: CIRCUIT DESIGN AND PARAMETRIC TEST IN NANO-SCALED TECHNOLOGIES (PROCESS-AWARE SRAM DESIGN AND TEST)

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Edition présentée

ISBN 10 :  1402083629 ISBN 13 :  9781402083624
Editeur : Springer, 2008
Couverture rigide

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Pavlov Andrei
Edité par Springer Nature (Sie), 2011
ISBN 10 : 8132202325 ISBN 13 : 9788132202325
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