CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Couverture souple
Livre 21 sur 36: Frontiers in Electronic Testing
Synopsis
This book covers a broad range of topics related to SRAM design and testing. It includes everything from SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (eng)
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling. N° de réf. du vendeur 5821690
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10 : 904817855X
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. 212 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789048178551
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test
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Taschenbuch. Etat : Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 107142378
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 212 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789048178551
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. N° de réf. du vendeur 9789048178551
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