CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Couverture souple

Livre 21 sur 36: Frontiers in Electronic Testing
 
9789048117451: CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Couverture souple
ISBN 10 : 9048117453 ISBN 13 : 9789048117451

L'édition de cet ISBN n'est malheureusement plus disponible.

Langue
anglais
ISBN 10 
9048117453
ISBN 13 
9789048117451
Reliure
Broché
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

Autres éditions populaires du même titre

9781402083624: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Edition présentée

ISBN 10 :  1402083629 ISBN 13 :  9781402083624
Editeur : Springer, 2008
Couverture rigide