CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test

Livre 21 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Manoj Sachdev

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Edité par Springer Netherlands, Springer, 2010
Langue: anglais
Etat : Neuf Couverture souple

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