Manoj sachdev (66 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2007
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
Vendeur : Patrico Books, Apollo Beach, FL, Etats-UnisPatrico Books
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EUR 15,31
EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : As New. 2nd. Ships Out Tomorrow.
Langue : anglais
Edité par New Age International Publisher, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture souple
- Édition internationale
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-UnisRomtrade Corp.
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesÉdition internationaleEtat: Neuf
EUR 26,36
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Etat : New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed o…n the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Langue : anglais
Edité par New Age International Publisher, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture souple
Vendeur : SMASS Sellers, IRVING, TX, Etats-UnisSMASS Sellers
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EUR 27,57
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Etat : New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-UnisHPB-Red
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EUR 56,37
EUR 3,28 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2007
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
Vendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-UnisSolr Books
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EUR 99,39
EUR 6,98 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 116,49
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
- Couverture souple
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-UnisHPB-Red
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EUR 128,74
EUR 3,28 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
paperback. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 116,48
EUR 17,51 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 132,01
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
- Couverture rigide
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-UnisBetter World Books
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EUR 145,85
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Langue : anglais
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-UniRarewaves.com USA
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EUR 146,12
Frais de port gratuitsExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Hardback. Etat : New. 2006 ed.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture souple
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 146,35
EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 192.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture souple
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 141,11
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2007
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 168,75
EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. pp. 352 2nd Edition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture souple
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 165,74
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 21 sur 40. Livre 21 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture souple
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 165,74
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer US, Springer New York, 2010
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture souple
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 112,77
EUR 61,50 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an inte…gral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 21 sur 40. Livre 21 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 165,72
EUR 17,51 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2007
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 177,11
EUR 7,59 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2008
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 21 sur 40. Livre 21 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 182,73
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Etat : New.
- Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 178,05
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
- Couverture souple
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 178,05
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture souple
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 177,95
EUR 29,18 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. Like New. book.
Langue : anglais
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-UniRarewaves.com UK
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EUR 137,22
EUR 75,88 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Hardback. Etat : New. 2006 ed.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Comme neuf
EUR 195,98
EUR 17,51 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 186,37
EUR 29,18 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2006
Série : Integrated Circuits and Systems, Livre 2 sur 34. Livre 2 sur 34 - Integrated Circuits and Systems
- Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Occasion - Comme neuf
EUR 218,39
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 21 sur 40. Livre 21 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture souple
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 149,05
EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juerge…n[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 21 sur 40. Livre 21 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture souple
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 227,58
EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 212.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2007
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 18 sur 40. Livre 18 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 227,30
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
