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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Patrico Books, Apollo Beach, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 15,31
Expédition à EUR 3,49
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Edition internationaleDEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingLangue: anglais
Edité par New Age International Publisher, 2010
ISBN 10 : 8184894295 ISBN 13 : 9788184894295
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 26,36
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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DEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingLangue: anglais
Edité par New Age International Publisher, 2010
ISBN 10 : 8184894295 ISBN 13 : 9788184894295
Vendeur : SMASS Sellers, IRVING, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 27,57
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 56,37
Expédition à EUR 3,28
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 99,39
Expédition à EUR 6,98
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 116,49
Expédition à EUR 13,98
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 128,74
Expédition à EUR 3,28
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 116,48
Expédition à EUR 17,51
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 131,25
Expédition à EUR 2,31
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 145,85
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsLangue: anglais
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10 : 0387257624 ISBN 13 : 9780387257624
Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 146,12
Livraison gratuite
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierHardback. Etat : New. 2006 ed.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 146,35
Expédition à EUR 3,49
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 192.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 141,11
Expédition à EUR 13,98
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 168,75
Expédition à EUR 3,49
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 352 2nd Edition.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 165,74
Expédition à EUR 13,98
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Livre 21 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 165,74
Expédition à EUR 13,98
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsLangue: anglais
Edité par Springer US, Springer New York, 2010
ISBN 10 : 144193832X ISBN 13 : 9781441938329
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 112,77
Expédition à EUR 61,50
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an integral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Livre 21 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 165,72
Expédition à EUR 17,51
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Livre 21 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 182,52
Expédition à EUR 2,31
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 177,11
Expédition à EUR 7,59
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 178,05
Expédition à EUR 13,98
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 178,05
Expédition à EUR 13,98
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 177,95
Expédition à EUR 29,18
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsLangue: anglais
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10 : 0387257624 ISBN 13 : 9780387257624
Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 137,22
Expédition à EUR 75,88
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 195,98
Expédition à EUR 17,51
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 186,37
Expédition à EUR 29,18
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Livre 2 sur 34 : Integrated Circuits and SystemsVendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 218,39
Expédition à EUR 2,31
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test
Livre 21 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingEUR 149,05
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Livre 21 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 227,58
Expédition à EUR 3,49
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 212.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Livre 18 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 227,30
Expédition à EUR 13,98
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
