CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Couverture rigide
Livre 21 sur 36: Frontiers in Electronic Testing
Synopsis
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
À propos de l?auteur
Prof. Sachdev has authored several successful books with Springer
Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Autres éditions populaires du même titre
Résultats de recherche pour CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled...
Image d'archives
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Edité par
Springer, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Patrico Books, Apollo Beach, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
hardcover. Etat : As New. Ships Out Tomorrow! N° de réf. du vendeur 230418054
Acheter D'occasion
EUR 73,36
Expédition à EUR 3,38
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (eng)
impression à la demandeVendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Etat : new. Questo è un articolo print on demand. N° de réf. du vendeur XEM7JAWBOJ
Acheter neuf
EUR 134,27
Expédition à EUR 6,80
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Expédition depuis Italie vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In. N° de réf. du vendeur ria9781402083624_new
Acheter neuf
EUR 161,54
Expédition à EUR 13,74
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 5594322-n
Acheter neuf
EUR 161,52
Expédition à EUR 17,20
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 5594322-n
Acheter neuf
EUR 178,21
Expédition à EUR 2,24
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Edité par
Springer, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 5594322
Acheter D'occasion
EUR 170,94
Expédition à EUR 17,20
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Edité par
Springer Netherlands, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling. N° de réf. du vendeur 4095486
Acheter neuf
EUR 146,12
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware Sram Design and Test
Edité par
Springer, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. N° de réf. du vendeur 4303400/12
Acheter D'occasion
EUR 91,99
Expédition à EUR 105
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware Sram Design and Test
Edité par
Springer, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Buchpark, Trebbin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. N° de réf. du vendeur 4303400/1
Acheter D'occasion
EUR 94,75
Expédition à EUR 105
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 4 disponible(s)
Image d'archives
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
Edité par
Springer, 2008
ISBN 10 : 1402083629
ISBN 13 : 9781402083624
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Like New. Like New. book. N° de réf. du vendeur ERICA77314020836296
Acheter D'occasion
EUR 272,80
Expédition à EUR 28,66
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)