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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Couverture souple
Synopsis
This book covers a broad range of topics related to SRAM design and testing. It includes everything from SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing.
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Cmos Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Paperback)
Edité par
Springer, Dordrecht, 2010
ISBN 10 : 904817855X
ISBN 13 : 9789048178551
Neuf
Paperback
Edition originale
Vendeur : Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Etats-Unis
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Paperback. Etat : new. Paperback. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9789048178551
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Edité par
Springer Netherlands, 2010
ISBN 10 : 904817855X
ISBN 13 : 9789048178551
Neuf
Couverture souple
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling. N° de réf. du vendeur 5821690
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Edité par
Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10 : 904817855X
ISBN 13 : 9789048178551
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. 212 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789048178551
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Edité par
Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10 : 904817855X
ISBN 13 : 9789048178551
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
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Taschenbuch. Etat : Neu. Neuware -CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 212 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9789048178551
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Edité par
Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2010
ISBN 10 : 904817855X
ISBN 13 : 9789048178551
Neuf
Taschenbuch
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. N° de réf. du vendeur 9789048178551
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))
Edité par
Springer, 2010
ISBN 10 : 904817855X
ISBN 13 : 9789048178551
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Paperback
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Paperback. Etat : Like New. Like New. book. N° de réf. du vendeur ERICA773904817855X6
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Cmos Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test
Edité par
Springer, 2010
ISBN 10 : 904817855X
ISBN 13 : 9789048178551
Ancien ou d'occasion
Couverture souple
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 15528640
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