CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test

Livre 21 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov, Andrei; Sachdev, Manoj

ISBN 10: 1402083629 ISBN 13: 9781402083624
Edité par Springer, 2008
Langue: anglais
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