Athreya arjun editor (1 résultats)
System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives (Springer Series in Reliability Engineering)
Wang, Long (Editor) / Pattabiraman, Karthik (Editor) / Di Martino, Catello (Editor) / Athreya, Arjun (Editor) / Bagchi, Saurabh (Editor)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2023
Série : Livre 79 sur 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Couverture souple
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 285,08
EUR 14,84 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponibles
Paperback. Etat : Brand New. 444 pages. 9.25x6.10x1.38 inches. In Stock.
