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Scanning Electron Microscopy a
Vendeur : SecondSale, Montgomery, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 53,66
Autre deviseEUR 29,85 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 91,45
Autre deviseEUR 4,61 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8,66
Autre deviseEUR 89,55 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : New Legacy Books, Annandale, NJ, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 54,78
Autre deviseEUR 63,96 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : VeryGood. Fast shipping and order satisfaction guaranteed. A portion of your purchase benefits Non-Profit Organizations, First Aid and Fire Stations!
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 104,83
Autre deviseEUR 25,57 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 125,61
Autre deviseEUR 6,82 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2013
ISBN 10 : 1461349699 ISBN 13 : 9781461349693
Langue: anglais
Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 134,60
Autre deviseEUR 2,31 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierPaperback. Etat : New. In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The ?eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and "through-the-lens" detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping. 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3rd ed. 2003.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Edité par Springer-Verlag New York Inc., US, 2013
ISBN 10 : 1461349699 ISBN 13 : 9781461349693
Langue: anglais
Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 144,04
Autre deviseEUR 2,31 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierPaperback. Etat : New. Third Edition 2003.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 146,05
Autre deviseEUR 7,68 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xix + 689 3rd Edition.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 147,65
Autre deviseEUR 10,23 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xix + 689 232 Illus.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 112,22
Autre deviseEUR 63,96 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 101,04
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The text has been used in educating over 3,000 students at the Lehigh SEM short course as well as thousands of undergraduate and graduate students at universities in every corner of the globeThe authors have made extensive changes to the text and .
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 182,61
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. xix + 689.
