Montant total (1 article articles) :
Destination de la commande :
murt e m (17 résultats)
Passer aux résultats principaux de la recherche
Filtres de recherche
Type d'article
- Tous les types de produits
- Livres (17)
- Magazines & Périodiques (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Bandes dessinées (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Partitions de musique (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Art, Affiches et Gravures (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Photographies (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Cartes (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Manuscrits & Papiers anciens (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Etat En savoir plus
- Neuf (13)
- Comme neuf, Très bon ou Bon (1)
- Assez bon ou satisfaisant (2)
- Moyen ou mauvais (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Conformément à la description (1)
Particularités
- Ed. originale (1)
- Signé (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Jaquette (1)
- Avec images (6)
- Sans impressions à la demande (11)
Langue (3)
Livraison gratuite
- Livraison gratuite à destination de Etats-Unis (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Pays
Evaluation du vendeur
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Edité par Plenum Press, New York, NY, 1969
Vendeur : Book Bear, West Brookfield, MA, Etats-Unis
Membre d'association : SNEAB
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8,59
Expédition à EUR 4,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierCloth. Etat : Very Good. Etat de la jaquette : No Dust Jacket. 194 pp. Tightly bound. Corners not bumped. Text is free of markings. Owner's name stamp on front end paper. Light foxing top fore-edge.
-
Bonne affaire
EUR 5,55
Expédition à EUR 16,50
Expédition depuis France vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierSoftcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque. Couverture différente. Edition 1969. Tome 2. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Different cover. Edition 1969. Volume 2. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Edité par Plenum Press, 1969
Vendeur : Mythos Center Books, Frontenac, MN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 17,67
Expédition à EUR 3,86
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Used: Very Good. 1st ed. Cloth, 194pp, vg. Progress In Analytical Chemistry, Volume 2.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Edité par Plenum Publishing, 1969
Vendeur : George Cross Books, Lexington, MA, Etats-Unis
Membre d'association : IOBA
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 20,33
Expédition à EUR 3,43
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. First ition edition. Good/Good (23493) - Hardcover, good condition, w. ltly compressed spine. badly bumped r. top corner, 3 ltly bumped corners. Damp stain on r. brd. Creaky fr. hinge. Ltly tanned p. edges, eps. clean, tight, unmarked. Dj good, some lt soil, somewhat rubbed. Ltly tanned sp. damps stain, some lt edgwr. chip at top fr. 194.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films (Progress in Analytical Chemistry)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 59,86
Expédition à EUR 13,81
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 56,64
Expédition à EUR 17,85
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
Ajouter au panierPF. Etat : New.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 72,22
Expédition à EUR 3,42
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 208.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 77,01
Expédition à EUR 11,52
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. reprint edition. 205 pages. 9.01x5.98x0.44 inches. In Stock.
-
EUR 50,25
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Physical Measurement and Analysis of Thin Films | E. M. Murt | Taschenbuch | Progress in Analytical Chemistry | xi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781489959126 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 58,39
Expédition à EUR 61,55
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering.
-
The Definitive Guide Hadoop YARN(Chinese Edition)
Langue: chinois
Edité par Machinery Industry Press, 2015
ISBN 10 : 7111491815 ISBN 13 : 9787111491811
EUR 78,72
Expédition à EUR 15,44
Expédition depuis Chine vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierpaperback. Etat : New. Language:Chinese.The Definitive Guide Hadoop YARN.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 46,22
Expédition à EUR 5,50
Expédition depuis Italie vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : new. Questo è un articolo print on demand.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 70,44
Expédition à EUR 7,49
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 208 23:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Langue: anglais
Edité par Springer US, Springer US Dez 2013, 2013
ISBN 10 : 1489959122 ISBN 13 : 9781489959126
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 53,49
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware 208 pp. Englisch.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 71,95
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 208.
-
EUR 48,37
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Springer Book Archives.
-
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Langue: anglais
Edité par Springer, Springer Dez 2013, 2013
ISBN 10 : 1489959122 ISBN 13 : 9781489959126
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 53,49
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 208 pp. Englisch.
