Otwin breitenstein (17 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer 2010
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 29 sur 72. Livre 29 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 115,66
EUR 13,89 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 164,57
EUR 13,89 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer 2010
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 29 sur 72. Livre 29 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 112,94
EUR 62,81 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the last 7 years, the rst edition of 'Lock-in Thermography' has established as a reference book for all users of this technique for investigating electronic devices, especially solar cells. At this time, a vital further development of lock-in therm- raphy…could be observed. Not only the experimental technique was improved by applying new and better infrared cameras, solid immersion lenses, and novel t- ing strategies, but also completely new application elds of lock-in thermography were established by implying irradiation of light during the measurements. The two groups of new techniques are different kinds of Illuminated Lock-In Thermography (ILIT) and Carrier Density Imaging, resp. Infrared Lifetime Imaging (CDI/ILM). While ILIT is performed on solar cells, CDI/ILM is performed on bare wafers for imaging the local minority carrier lifetime and the local concentration of trapping centers. The new edition of this book implements these new developments. One new section entitled 'Timing strategies' is added. In this, new ways are introduced to overcome previous limitations of the choice of the lock-in frequency in comparison with the frame rate of the camera. The previous diffraction limit of the spatial resolution can be overcome by a factor of up to 4 by applying so-called solid immersion lenses. This technique is introduced and its application for failure analysis of ICs, where highest possible spatial resolution is desired, is shown in another new section.
Langue : anglais
Edité par Springer 2019
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 63 sur 72. Livre 63 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 231,13
EUR 3,50 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer 2010
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 29 sur 72. Livre 29 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 222,06
EUR 28,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer Verlag 2019
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 63 sur 72. Livre 63 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 253,92
EUR 14,49 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Hardcover. Etat : Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 274,59
EUR 28,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 372,48
EUR 28,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer Berlin Heidelberg 2010
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 29 sur 72. Livre 29 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-UniPBShop.store UK
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EUR 5,82 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
HRD. Etat : New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
Langue : anglais
Edité par Springer Berlin Heidelberg 2010
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 29 sur 72. Livre 29 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-UnisPBShop.store US
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EUR 123,81
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
HRD. Etat : New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
Langue : anglais
Edité par Springer Berlin Heidelberg Sep 2010 2010
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 29 sur 72. Livre 29 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book deals with lock-in thermography (LIT) as a special active dynamic variant of the well-known IR thermography. It enables a much improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state…thermography. The book concentrates on applications to electronic devices and materials, but the basic chapters are useful as well for non-destructive evaluation. Various experimental approaches to LIT are reviewed with special emphasis to different available commercial LIT systems. New LIT applications are reviewed, like Illuminated LIT applied to solar cells , and non-thermal LIT lifetime mapping. Typical LIT investigation case studies are introduced. 268 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer 2019
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 63 sur 72. Livre 63 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalieBrook Bookstore On Demand
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EUR 134,27
EUR 6,80 expéditionExpédition depuis Italie vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 144,94
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes an imaging technique for the evaluation of materials and electronic devicesDiscusses various new application fields of lock-in thermographyIs useful as a reference work for researchers and engineers al…ikeIncludes ext.
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 171,19
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodic…ally modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included. 344 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer International Publishing, Springer International Publishing Jan 2019 2019
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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EUR 171,19
EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically… modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 344 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer 2019
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 63 sur 72. Livre 63 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 245,49
EUR 7,53 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. Print on Demand.
Langue : anglais
Edité par Springer 2019
Série : Springer Series in Advanced Microelectronics, Livre 63 sur 72. Livre 63 sur 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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EUR 242,18
EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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