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  • Langue : anglais

    Edité par Chapman and Hall/CRC, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices

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  • Langue : anglais

    Edité par Chapman and Hall/CRC, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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  • Langue : anglais

    Edité par Chapman and Hall/CRC, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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  • Langue : anglais

    Edité par Chapman and Hall/CRC, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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  • Langue : anglais

    Edité par Chapman and Hall/CRC, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-UnisCalifornia Books

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  • Langue : anglais

    Edité par Taylor & Francis Group, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : Books Puddle, Woodside, NY, Etats-UnisBooks Puddle

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    Edité par Taylor & Francis Group, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios

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    Quantité disponible : 3 disponibles

    Etat : New. pp. 400.

  • Langue : anglais

    Edité par Chapman and Hall/CRC, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections

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  • Langue : anglais

    Edité par Taylor and Francis Inc, US, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-UniRarewaves.com USA

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    Hardback. Etat : New. Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point PatternsSpatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of MethodsThe first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional "structure," such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.Easily Analyze Your Own DataThroughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter.…

  • Langue : anglais

    Edité par Chapman & Hall, 2015

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    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books

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    EUR 250,15

    EUR 23,47 expédition 
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    Quantité disponible : 2 disponibles

    Hardcover. Etat : Brand New. 810 pages. 9.00x7.00x2.00 inches. In Stock.

  • Langue : anglais

    Edité par Taylor and Francis Inc, US, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-UniRarewaves.com UK

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    Etat: Neuf

    EUR 235,59

    EUR 76,27 expédition 
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    Hardback. Etat : New. Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point PatternsSpatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of MethodsThe first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional "structure," such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.Easily Analyze Your Own DataThroughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter.…

  • Langue : anglais

    Edité par Taylor & Francis Group, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books

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    Etat: Neuf

    EUR 166,87

    EUR 7,63 expédition 
    Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis

    Quantité disponible : 3 disponibles

    Etat : New. pp. 400 This item is printed on demand.

  • Langue : anglais

    Edité par Chapman And Hall/CRC Nov 2015, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

    Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles
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    Etat: Neuf

    EUR 155,50

    EUR 23,00 expédition 
    Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

    Quantité disponible : 2 disponibles

    Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point PatternsSpatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of MethodsThe first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional 'structure,' such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.Easily Analyze Your Own DataThroughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter. 830 pp. Englisch.…

  • Langue : anglais

    Edité par Chapman And Hall/CRC, 2015

    1482210207 / 9781482210200

    Série : Livre 1 sur 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

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    Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH

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    Etat: Neuf

    EUR 173,44

    EUR 47,08 expédition 
    Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis

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    Buch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point PatternsSpatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of MethodsThe first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional 'structure,' such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.Easily Analyze Your Own DataThroughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter.…