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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Stapper, C.H. (Editor) / Jain, V.K. (Editor) / Saucier, Gabriele (Editor)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2013
1475799594 / 9781475799590
- Couverture souple
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Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 329 pages. 10.00x7.01x0.75 inches. In Stock.