Tille daniel (4 résultats)
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
- Couverture souple
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 124,09
EUR 11,17 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In English.
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Drechsler, Rolf; Eggersglüß, Stephan; Fey, Görschwin; Tille, Daniel
- Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 131,02
EUR 13,46 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In English.
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Rolf Drechsler|Stephan Eggersglüß|Görschwin Fey|Daniel Tille
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Kartoniert / Broschiert. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The first book giving a detailed overview on SAT-based ATPGAll techniques are validated on industrial designsA comprehensive introduction to Boolean Satisfiability1 Introduction. 2 Preliminaries. 2.1 Circuits. 2.2 Fault Models. 2.3 .…
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Rolf Drechsler|Stephan Eggersglüß|Görschwin Fey|Daniel Tille
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 93,00
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The first book giving a detailed overview on SAT-based ATPGAll techniques are validated on industrial designsA comprehensive introduction to Boolean Satisfiability1 Introduction. 2 Preliminaries. 2.1 Circuits. 2.2 Fault Models. 2.3 .…
