Tudu jaynarayan editor (1 résultats)

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VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 1719, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science, 1687)
Shah, Ambika Prasad (Editor) / Dasgupta, Sudeb (Editor) / Darji, Anand (Editor) / Tudu, Jaynarayan (Editor)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2022
3031215133 / 9783031215131
Série : Communications in Computer and Information Science, Livre 495 sur 578. Livre 495 sur 578 - Communications in Computer and Information Science
- Couverture souple
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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Paperback. Etat : Brand New. 614 pages. 9.25x6.10x1.42 inches. In Stock.
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