Virazel arnaud (11 résultats)
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs
Alberto Bosio|Luigi Dilillo|Patrick Girard|Serge Pravossoudovitch|Arnaud Virazel
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Advanced Test Methods for SRAMs
Alberto Bosio|Luigi Dilillo|Patrick Girard|Serge Pravossoudovitch|Arnaud Virazel
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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