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Edité par Kluwer Academic Publishers, 2001
ISBN 10 : 0792369971 ISBN 13 : 9780792369974
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Edité par Kluwer Academic Publishers, 2001
ISBN 10 : 0792369963 ISBN 13 : 9780792369967
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Edité par Kluwer Academic Publishers, 2001
ISBN 10 : 0792369971 ISBN 13 : 9780792369974
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ISBN 10 : 0792369971 ISBN 13 : 9780792369974
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Singularities arise naturally in a huge number of different areas of mathematics and science. As a consequence, singularity theory lies at the crossroads of paths that connect many of the most important areas of applications of mathematics with some of its most abstract regions. The main goal in most problems of singularity theory is to understand the dependence of some objects of analysis, geometry, physics, or other science (functions, varieties, mappings, vector or tensor fields, differential equations, models, etc.) on parameters. The articles collected here can be grouped under three headings. (A) Singularities of real maps; (B) Singular complex variables; and (C) Singularities of homomorphic maps.
Langue: anglais
Edité par Kluwer Academic Publishers, 2001
ISBN 10 : 0792369963 ISBN 13 : 9780792369967
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Ajouter au panierEtat : New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Cambridge, UK, 31 July-11 August 2000. Editor(s): Siersma, D.; Wall, C. T. C.; Zakalyukin, Vladimir. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 472 pages, biography. BIC Classification: PBKD; PBMP. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 26. Weight in Grams: 851. . 2001. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Langue: anglais
Edité par Cuvillier, Cuvillier Nov 2012, 2012
ISBN 10 : 3954042711 ISBN 13 : 9783954042715
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit Oberflächendiffusion und Strukturbildung an Oberflächen, speziell im Fall Silber auf Silizium. Unterschiedliche Methoden werden kombiniert um Si(001) und Si(111) Oberflächen als auch dazwischen liegende Orientierungen zu untersuchen. niedrigenergetische Elektronenmikroskopie (LEEM) und photoemissions Elektronenmikroskopie (PEEM) wurden verwendet um die Wachstumsdynamik und den Einfluss von Oberflächendiffusion auf die Strukturbildung an Oberflächen unter Ultrahochvakuum (UHV) Bedingungen zu untersuchen. Es wurden ein- und multi-kristalline Ag Inseln und selbstorganisierte Ag Drähte auf unterschiedlichen Si Oberflächen untersucht. Hierfür wurde Ag bei hohen Temperaturen auf Oberflächen aufgebracht, wobei die meisten Untersuchungen in-situ erfolgten. Die Struktur der Ag Inseln und Drähte und deren Orientierung zum Substrat wurde hauptsächlich mit niederenergetischer Elektronenbeugung an kleinen Bereichen (µ-LEED), hochauflösender niederenergetischer Elektronenbeugung (SPA-LEED) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM) untersucht. Für die SEM Untersuchungen wurden die präparierten Proben aus dem UHV entnommen um sie in ein SEM zu transferieren und eine statistisch bessere Aussagekraft zu erreichen. Ag(001) und Ag(111) Inseln wurden bei Temperaturen von bis zu 700°C gewachsen. Mit steigender Wachstumstemperatur verändert sich die überwiegende Form der Inseln von hexagonal zu dreieckig. Die relative Drehung zum Substrat wurde Untersucht und mit einem modifizierten gitter-koinzidenz Modell (CSL) verglichen. Der Vergleich zeigt eine ausgesprochen gute Übereinstimmung der experimentellen Daten mit der Theorie, bei der praktisch alle Drehwinkel erklärt werden. 240 pp. Englisch.
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Edité par Cuvillier, Cuvillier Nov 2012, 2012
ISBN 10 : 3954042711 ISBN 13 : 9783954042715
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit Oberflächendiffusion und Strukturbildung an Oberflächen, speziell im Fall Silber auf Silizium. Unterschiedliche Methoden werden kombiniert um Si(001) und Si(111) Oberflächen als auch dazwischen liegende Orientierungen zu untersuchen. niedrigenergetische Elektronenmikroskopie (LEEM) und photoemissions Elektronenmikroskopie (PEEM) wurden verwendet um die Wachstumsdynamik und den Einfluss von Oberflächendiffusion auf die Strukturbildung an Oberflächen unter Ultrahochvakuum (UHV) Bedingungen zu untersuchen. Es wurden ein- und multi-kristalline Ag Inseln und selbstorganisierte Ag Drähte auf unterschiedlichen Si Oberflächen untersucht. Hierfür wurde Ag bei hohen Temperaturen auf Oberflächen aufgebracht, wobei die meisten Untersuchungen in-situ erfolgten. Die Struktur der Ag Inseln und Drähte und deren Orientierung zum Substrat wurde hauptsächlich mit niederenergetischer Elektronenbeugung an kleinen Bereichen (µ-LEED), hochauflösender niederenergetischer Elektronenbeugung (SPA-LEED) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM) untersucht. Für die SEM Untersuchungen wurden die präparierten Proben aus dem UHV entnommen um sie in ein SEM zu transferieren und eine statistisch bessere Aussagekraft zu erreichen. Ag(001) und Ag(111) Inseln wurden bei Temperaturen von bis zu 700°C gewachsen. Mit steigender Wachstumstemperatur verändert sich die überwiegende Form der Inseln von hexagonal zu dreieckig. Die relative Drehung zum Substrat wurde Untersucht und mit einem modifizierten gitter-koinzidenz Modell (CSL) verglichen. Der Vergleich zeigt eine ausgesprochen gute Übereinstimmung der experimentellen Daten mit der Theorie, bei der praktisch alle Drehwinkel erklärt werden.Cuvillier Verlag, Nonnenstieg 8, 37075 Göttingen 240 pp. Englisch.