Wirth gilson (50 résultats)
ZnO Thin-Film Transistors for Cost-Efficient Flexible Electronics
Vidor, Fábio Fedrizzi; Wirth, Gilson Inácio; Hilleringmann, Ulrich
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ZnO Thin-Film Transistors for Cost-Efficient Flexible Electronics
Vidor, Fábio Fedrizzi; Wirth, Gilson Inácio; Hilleringmann, Ulrich
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ZnO Thin-Film Transistors for Cost-Efficient Flexible Electronics
Vidor, Fábio Fedrizzi; Wirth, Gilson Inácio; Hilleringmann, Ulrich
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ZnO Thin-Film Transistors for Cost-Efficient Flexible Electronics
Vidor, Fábio Fedrizzi; Wirth, Gilson Inácio; Hilleringmann, Ulrich
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ZnO Thin-Film Transistors for Cost-Efficient Flexible Electronics
Vidor, Fábio Fedrizzi; Wirth, Gilson Inácio; Hilleringmann, Ulrich
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Zno Thin-film Transistors for Cost-efficient Flexible Electronics
Vidor, Fábio Fedrizzi/ Wirth, Gilson Inácio/ Hilleringmann, Ulrich
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Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 200 pages. 9.50x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Hardcover. Etat : Brand New. 2014 edition. 138 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
ZnO Thin-Film Transistors for Cost-Efficient Flexible Electronics
Vidor, Fábio Fedrizzi (Author)/ Wirth, Gilson Inácio (Author)/ Hilleringmann, Ulrich (Author)
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Hardcover. Etat : Brand New. 200 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock.
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Etat : New. pp. 107.
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Hardcover. Etat : Brand New. 272 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 120 pages. 9.25x6.10x0.29 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Circuit Design for Reliability | Ricardo Reis (u. a.) | Taschenbuch | vi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9781493941568 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques fo…r state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | With the development of Very-Deep Sub-Micron technologies, process variability is becoming increasingly important and is a very important issue in the design of complex circuits. Process variability is the statistical variation of process parameters, m…eaning that these parameters do not have always the same value, but become a random variable, with a given mean value and standard deviation. This effect can lead to several issues in digital circuit design.The logical consequence of this parameter variation is that circuit characteristics, as delay and power, also become random variables. Because of the delay variability, not all circuits will now have the same performance, but some will be faster and some slower. However, the slowest circuits may be so slow that they will not be appropriate for sale. On the other hand, the fastest circuits that could be sold for a higher price can be very leaky, and also not very appropriate for sale. A main consequence of power variability is that the power consumption of some circuits will be different than expected, reducing reliability, average life expectancy and warranty of products. Sometimes the circuits will not work at all, due to reasons associated with process variations. At the end, these effects result in lower yield and lower profitability.To understand these effects, it is necessary to study the consequences of variability in several aspects of circuit design, like logic gates, storage elements, clock distribution, and any other that can be affected by process variations. The main focus of this book will be storage elements.
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Etat : Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | With the development of Very-Deep Sub-Micron technologies, process variability is becoming increasingly important and is a very important issue in the design of complex circuits. Process variability is the statistical variation of process param…eters, meaning that these parameters do not have always the same value, but become a random variable, with a given mean value and standard deviation. This effect can lead to several issues in digital circuit design.The logical consequence of this parameter variation is that circuit characteristics, as delay and power, also become random variables. Because of the delay variability, not all circuits will now have the same performance, but some will be faster and some slower. However, the slowest circuits may be so slow that they will not be appropriate for sale. On the other hand, the fastest circuits that could be sold for a higher price can be very leaky, and also not very appropriate for sale. A main consequence of power variability is that the power consumption of some circuits will be different than expected, reducing reliability, average life expectancy and warranty of products. Sometimes the circuits will not work at all, due to reasons associated with process variations. At the end, these effects result in lower yield and lower profitability.To understand these effects, it is necessary to study the consequences of variability in several aspects of circuit design, like logic gates, storage elements, clock distribution, and any other that can be affected by process variations. The main focus of this book will be storage elements.
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Paperback. Etat : Brand New. reprint edition. 278 pages. 9.25x6.10x0.66 inches. In Stock.
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EUR 29,22 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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EUR 29,22 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Edité par Springer
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EUR 3,42 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with tech…niques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management. 280 pp. Englisch.
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 109,99
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers wi…th techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management. 280 pp. Englisch.
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides comprehensive review on various reliability mechanisms at sub-45nm nodesDescribes practical modeling and characterization techniques for reliabilityIncludes thorough presentation of robust design techniques for m…ajor VLSI design un.
