Springer 7 29 2002 (1 résultats)

Editeur:

Affiner les résultats avec une recherche avancée

Pattern Recognition with Support Vector Machines: First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings (Paperback or Softback)
Lee, Seong-Whan
Langue : anglais
Edité par Springer 7/29/2002, 2002
354044016X / 9783540440161
- Couverture souple
Vendeur : BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Etats-UnisBargainBookStores
Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles
Contacter le vendeur
Etat: Neuf
EUR 58,54
Frais de port gratuits
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 5 disponible(s)
Paperback or Softback. Etat : New. Pattern Recognition with Support Vector Machines: First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings. Book.