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Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds. Materials Science Monographs. No. 31
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 13,90
Expédition à EUR 3,88
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, March 23 (weekend sale item)* hardcover, 306 pp., ex library, but text and binding still clean and tight . - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 Proceedings of the Seventh International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997
Edité par Institute of Physics, 1998
Vendeur : Peace of Mind Bookstore, Tulsa, OK, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8
Expédition à EUR 4,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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![Image d'archives pour Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 [Institute of Physics Conference Series No. 160] mis en vente par Tiber Books](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780750305006-fr-300.jpg)
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 [Institute of Physics Conference Series No. 160]
Langue: anglais
Edité par Institute of Physics Publishing, Bristol / Philadelphia., 1998
ISBN 10 : 0750305002 ISBN 13 : 9780750305006
Vendeur : Tiber Books, Cockeysville, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,88
Expédition à EUR 4,74
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Bonne affaire
EUR 5,84
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Ajouter au panierHardcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque. Traces d'usure sur la couverture. Couverture différente. Edition 1985. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Signs of wear on the cover. Different cover. Edition 1985. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors : Proceedings of the Seventh Conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 (Conference Series., No. 160),
Langue: anglais
Edité par Institute of Physics Publishing, 1998,, 1998
ISBN 10 : 0750305002 ISBN 13 : 9780750305006
Vendeur : Sutton Books, Norwich, VT, Etats-Unis
Membre d'association : IOBA
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EUR 39,99
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Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds, II: Proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing . 27-29, 1987 (Materials science monographs)
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
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EUR 47,41
Expédition à EUR 3,88
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, . 160 (Institute of Physics Conference Series)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 331,97
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 334,91
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 357,92
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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EUR 409,21
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, ... 1997 (Institute of Physics Conference Series)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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EUR 412,14
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, ... 1997 (Institute of Physics Conference Series)
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
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EUR 432,21
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Langue: anglais
Edité par Inst of Physics Pub Inc, 1998
ISBN 10 : 0750305002 ISBN 13 : 9780750305006
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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EUR 574,40
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Weld seam image processing and intelligent defect recognition(Chinese Edition)
Langue: anglais
ISBN 10 : 7307242877 ISBN 13 : 9787307242876
EUR 73,98
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Ajouter au panierpaperback. Etat : New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-02 Pages: 191 Publisher: Wuhan University Press This book addresses the practical problems and needs encountered in the radiographic inspection of welds in important fields such as nuclear power. chemical industry. and shipbuilding. Using digitized radiographic images of weld seams as the research object. it solves problems such as automatic defect identification. image enhancement based on human vision. digital storage and retrieval of radiographic .
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EUR 320,81
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Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This .
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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EUR 548,37
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This volume addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. The book discusses the merits and limits of characterization techniques; standardization; correlations between defects and device performance, including degradation and failure analysis; and the adaptation and application of standard characterization techniques to new materials. It also examines the impressive advances made possible by the increase in the number of nanoscale scanning techniques now available. The book investigates defects in layers and devices, and examines the problems that have arisen in characterizing gallium nitride and silicon carbide.
