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Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds. Materials Science Monographs. No. 31
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 11,85
Expédition à EUR 3,86
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Bonne affaire
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Ajouter au panierHardcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque. Traces d'usure sur la couverture. Couverture différente. Edition 1985. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Signs of wear on the cover. Different cover. Edition 1985. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 Proceedings of the Seventh International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997
Edité par Institute of Physics, 1998
Vendeur : Peace of Mind Bookstore, Tulsa, OK, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 7,95
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EUR 73,57
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Ajouter au panierpaperback. Etat : New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-02 Pages: 191 Publisher: Wuhan University Press This book addresses the practical problems and needs encountered in the radiographic inspection of welds in important fields such as nuclear power. chemical industry. and shipbuilding. Using digitized radiographic images of weld seams as the research object. it solves problems such as automatic defect identification. image enhancement based on human vision. digital storage and retrieval of radiographic .
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Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds, II: Proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing . 27-29, 1987 (Materials science monographs)
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
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EUR 106,87
Expédition à EUR 3,86
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. 320 pp., hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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EUR 335,44
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, . 160 (Institute of Physics Conference Series)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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EUR 358,51
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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EUR 363,35
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, ... 1997 (Institute of Physics Conference Series)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Langue: anglais
Edité par Inst of Physics Pub Inc, 1998
ISBN 10 : 0750305002 ISBN 13 : 9780750305006
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This .
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This volume addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. The book discusses the merits and limits of characterization techniques; standardization; correlations between defects and device performance, including degradation and failure analysis; and the adaptation and application of standard characterization techniques to new materials. It also examines the impressive advances made possible by the increase in the number of nanoscale scanning techniques now available. The book investigates defects in layers and devices, and examines the problems that have arisen in characterizing gallium nitride and silicon carbide.
