Defect recognition image processing par doneker (9 résultats)
- Couverture rigide
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 336,72
EUR 18,08 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Hardcover. Etat : New.
- Couverture rigide
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Neuf
EUR 419,26
EUR 3,51 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Etat : New. pp. 548.
- Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 428,05
EUR 13,98 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
- Couverture rigide
Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Neuf
EUR 436,57
EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Etat : New. pp. 548.
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 320,81
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogenei…ties in complete silicon wafers. This .
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Neuf
EUR 398,51
EUR 7,59 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Etat : New. pp. 548 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam This item is printed on demand.
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-UniPBShop.store UK
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 426,43
EUR 7,89 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
HRD. Etat : New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-UnisPBShop.store US
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 445,45
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
HRD. Etat : New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 548,37
EUR 64,90 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This volume add…resses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. The book discusses the merits and limits of characterization techniques; standardization; correlations between defects and device performance, including degradation and failure analysis; and the adaptation and application of standard characterization techniques to new materials. It also examines the impressive advances made possible by the increase in the number of nanoscale scanning techniques now available. The book investigates defects in layers and devices, and examines the problems that have arisen in characterizing gallium nitride and silicon carbide.
