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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingEdité par Kluwer Academic Pub, Boston, 1998
ISBN 10 : 0792382951 ISBN 13 : 9780792382959
Langue: anglais
Vendeur : Feldman's Books, Menlo Park, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 31,07
EUR 3,88 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Fine. First Edition. A very clean, unmarked copy.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 58,61
EUR 3,23 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingEUR 59,99
EUR 22,50 expédition depuis France vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1998. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 1998. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Delay Fault Testing For Vlsi Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 99,98
Gratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 110,64
Gratuit expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 118,73
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 125,57
EUR 7,42 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 212 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 126,45
EUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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EUR 49,31
EUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 158,15
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 158,49
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 157,86
EUR 13,67 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 157,86
EUR 13,67 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 205,62
EUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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EUR 141,90
EUR 70 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Angela Krstic (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461375616 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (14))
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 223,33
EUR 28,53 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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EUR 136,16
EUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, o.
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EUR 136,16
EUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, o.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 221,42
EUR 7,42 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 210 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Livre 31 sur 40 : Frontiers in Electronic TestingVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 222,10
EUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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