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Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1996
ISBN 10 : 0521483506 ISBN 13 : 9780521483506
Vendeur : Better World Books Ltd, Dunfermline, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 5,73
Expédition à EUR 5,77
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Electron Microscopy and Analysis: Conference Proceedings (Conference Series No 68)
Langue: anglais
Edité par Institute of Physics Publishing, 1984
ISBN 10 : 0854981594 ISBN 13 : 9780854981595
Vendeur : BoundlessBookstore, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 3,57
Expédition à EUR 8,06
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. VG condition book with dust jacket. DJ is clean, has fresh colours and has little wear to edges. Book has clean and bright contents.
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Electron Microscopy & Analysis 1981: Proceedings of the International Conference, Cambridge, September 1981 (Conference Series / Institute of Physics,)
Langue: anglais
Edité par Institute of Physics Publishing (GB)
ISBN 10 : 0854981527 ISBN 13 : 9780854981526
Vendeur : Equipment for Living, Aliquippa, PA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 9,16
Expédition à EUR 3,39
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : good. No dust jacket. Ex-library book.
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Male reproductive system: Fine structure analysis by scanning and transmission electron microscopy
Vendeur : Wonder Book, Frederick, MD, Etats-Unis
Membre d'association : ABAA ILAB
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 12,67
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Good condition. A copy that has been read but remains intact. May contain markings such as bookplates, stamps, limited notes and highlighting, or a few light stains.
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Middle - Class Mexican - American Population of Waco, Texas (pp. 283-284) AND Scanning Electron Microscopy and Prehistoric Stone Tools (pp. 284-286) AND X-Ray Fluorescence Analysis of Archaeological Obsidian from the Rio Grande Plain, Southern Texas (pp. 286-289) AND Isocitric Dehydrogenase Activity in Experimentally-Induced Polycystic Ovaries (pp. 290-291) AND The Crawfish Fallicambarus macneesei (Black) in Texas (p. 291) AND The Physiological Importance of Potassium Excretion by the Urinary Bladder of Bufo marinus (pp. 291-293) AND Seismic Effects of Russian Nuclear Texts in the Atmosphere (pp. 293-296) (The Texas Journal of Science, Vol. 26, No. 1&2)
Edité par The Texas Journal of Science, 1975
Vendeur : Eryops Books, Stephenville, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 0,87
Expédition à EUR 5,09
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierNo Binding. Etat : Very Good. ORIGINAL 1975 Articles, disbound from journal; no covers; in very good condition. Journal.
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Electron Microscopy and Analysis, 1987
Langue: anglais
Edité par IOP Publishing, England, 1987
ISBN 10 : 0854981810 ISBN 13 : 9780854981816
Vendeur : P.C. Schmidt, Bookseller, Kettering, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 8,74
Expédition à EUR 4,24
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHard Cover. Etat : Very Good. First Edition. a very good hardcover; an ex-library copy with usual markings; internally pages bright and clean; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL ORDERS SHIPPED WITH DELIVERY CONFIRMATION; Size: 6 x 9". Ex-Library.
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Electron Microscopy and Analysis 1983. Conference Series Number 68
Langue: anglais
Edité par Bristol: Institute of Physics, 1983
ISBN 10 : 0854981594 ISBN 13 : 9780854981595
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 9,31
Expédition à EUR 3,82
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. 530 pp., hardcover, ex library but text clean & binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Electron Microscopy and Analysis 1995
Langue: anglais
Edité par Institute of Physics Publishing, 1995
ISBN 10 : 0750303573 ISBN 13 : 9780750303576
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 8,74
Expédition à EUR 4,67
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : As New. No Jacket. First Edition. Proceedings of the institute of physics electron microscopy and analysis group conference, university of birmingham 12-15 september 1995. Slick gray hardcover binding, no DJ. Like new copy.
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Electron Microscopy and Analysis
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 10,89
Expédition à EUR 3,18
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 0521453461 ISBN 13 : 9780521453462
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 14,62
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. 1st Edition. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1998
ISBN 10 : 0521453461 ISBN 13 : 9780521453462
Vendeur : Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 4,44
Expédition à EUR 12,29
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Ajouter au panierEtat : Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Electron Microscopy and Analysis 1987: Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group co (Institute of Physics Conference Series)
Vendeur : The Book Bin, Salem, OR, Etats-Unis
Membre d'association : ABAA CBA ILAB
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 12,68
Expédition à EUR 4,88
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. First Edition. > Edition/Printing: First edition | Used - VG+ cond. Ex-company lib (HP), labels to front cover, lower spine, chargeout slip to FFEP. Name stamps to edges. Small inked note to title page at spine. 361 pp. Proceedings of the Inst. of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference held at UMIST, 8-9 Sept. 1987. Over 83 papers > Language: English | > Size: 8vo - over 7 3/4 - 9 3/4 tall | > Media/Binding: Hardcover |.
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Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis
Langue: anglais
Edité par John Wiley & Sons Ltd, U.S.A., 1975
ISBN 10 : 0471790206 ISBN 13 : 9780471790204
Vendeur : Charles Berry, Bookseller, Lakeport, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 15,74
Expédition à EUR 3,57
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. Etat de la jaquette : Good. 1st Edition. Large hardcover in excellent condition: slight handling, owner bookplate on the front endpaper, slight cloth indentation otherwise unmarked. The dust jacket is good with small corner tears, slight spine fading, small green indentation, and is protected by a new, clear, removeable cover. 474 pages, with advanced information throughout. [3.2 lbs]. Book.
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Clastic Particles : Scanning Electron Microscopy and Shape Analysis of Sedimentary and Volcanic Clasts
Langue: anglais
Edité par Wiley & Sons, Incorporated, John, 1987
ISBN 10 : 0442260709 ISBN 13 : 9780442260705
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 20,12
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Electron Microscopy and Analysis
Vendeur : Better World Books Ltd, Dunfermline, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 14,49
Expédition à EUR 5,77
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Electron Microscopy and Analysis (Second Edition)
Vendeur : HPB-Ruby, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 18,11
Expédition à EUR 3,18
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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X-Ray and Image Analysis in Electron Microscopy
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 18,37
Expédition à EUR 3,18
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Electron Microscopy and Analysis
Langue: anglais
Edité par Wykeham Publications, London, UK, 1975
ISBN 10 : 085109001X ISBN 13 : 9780851090016
Vendeur : BookAddiction (IOBA, IBooknet), Canterbury, Royaume-Uni
Membre d'association : IOBA
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 13,09
Expédition à EUR 9,24
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierSoftcover. Etat : Very Good. 1st Edition. 192pp. Pictorial light card covers, black and white illustrations throughout. 8vo. Lightly rubbed edges and covers. Internally clean, neat, bright and tight.
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Electron Microscopy and Analysis, 1987: Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference Held at UMIST, 8-9 September 1987 (EMAG 87)
Langue: anglais
Edité par Institute of Physics Publishing, 1987
ISBN 10 : 0854981810 ISBN 13 : 9780854981816
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 17,49
Expédition à EUR 4,67
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : As New. Etat de la jaquette : Near Fine. First Edition. proceedings of the institute of physics electron microscopy and analysis group conference, UMIST 8-9 Sept 1987 (EMAG87) . Gray mylar protected DJ.
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Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1996
ISBN 10 : 0521483506 ISBN 13 : 9780521483506
Vendeur : The Book Bin, Salem, OR, Etats-Unis
Membre d'association : ABAA CBA ILAB
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 17,49
Expédition à EUR 4,88
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Good. Binding firm, interior pages have some penciling. Cover has surface wear.
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Electron Microscopy and Analysis
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8,63
Expédition à EUR 15,71
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. Book contains highlighter markings. In poor condition, suitable as a reading copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,550grams, ISBN:0850664144.
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 1996
ISBN 10 : 0521482666 ISBN 13 : 9780521482660
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 9,60
Expédition à EUR 15,71
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Dust jacket in good condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1200grams, ISBN:9780521482660.
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Electron Microscopy and Analysis
Vendeur : World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 26,27
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Item in good condition and has highlighting/writing on text. Used texts may not contain supplemental items such as CDs, info-trac etc.
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Electron Microscopy and Analysis, 1983: Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference Held at the University of Guildford, 30 August-2 September 1983 (EMAG 83), #68
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 21,86
Expédition à EUR 4,67
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fine. Etat de la jaquette : Fine. First Edition. This is a fine hardcover first edition copy in a fine, mylar protected DJ, slate blue spine. Series #68.
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Electron Microscopy and X-Ray Applications to Environmental and Occupational Health Analysis
Langue: anglais
Edité par Ann Arbor Science Publishers, Ann Arbor, Michigan, 1978
ISBN 10 : 025040222X ISBN 13 : 9780250402229
Vendeur : The Curiosity Book Shop, Hardwick, MA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 29,73
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. Etat de la jaquette : Good. Red cloth; metallic silver title and spine lettering. This volume contains material presented at the second Symposium on Electron Microscopy andX-Ray Applications to Environmental and Occupational Health Analyses convened in Denver, Colorado, April 25, 26 and 27, 1977. With numerous figures, tables, and black-and-white photograph reproductions. Faint cover edgewear. Dust jacket moderately edgeworn and with some faint soil to rear (white) panel. Otherwise clean, tight, and unworn.
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Practical Scanning Electron Microscopy. Electron and Ion Microprobe Analysis.
Vendeur : Plurabelle Books Ltd, Cambridge, Royaume-Uni
Membre d'association : GIAQ
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 21,41
Expédition à EUR 9,24
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. xviii 582p hardback, dark blue cloth with blue and white jacket, very good condition, binding firm, very light wear to jacket edges, jacket a little tanned, name on endpaper, pages very clean and neat, text and diagrams clear and bright including colour plates, excellent pre-owned copy with few signs of use Language: English.
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Electron Microscopy and Analysis, 1979 Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference Held at the Universi . Series - Institute of Physics; No. 52)
Langue: anglais
Edité par Institute of Physics Publishing, England, 1980
ISBN 10 : 0854981438 ISBN 13 : 9780854981434
Vendeur : JARE Inc. dba Miles Books, Highland, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 26,19
Expédition à EUR 5,05
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. Etat de la jaquette : Very Good. First edition. Book is clean and tight. EX lib with minimal markings. Book.
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Proceedings: Fiftieth Annual Meeting, Electron Microscopy Society of America; Twenty-Seventh Annual Meeting, Microbeam Analysis Society; Nineteenth Annual Meeting, Microscopical Society of Canada/Societe de Microscopie du Canada. Boston, Massachusetts, 16-21 August 1992. Part II of the Proceedings
Langue: anglais
Edité par San Francisco Press, San Francisco, CA., 1992
ISBN 10 : 9991183248 ISBN 13 : 9789991183244
Vendeur : Tiber Books, Cockeysville, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 27,11
Expédition à EUR 4,66
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. 8vo, hardcover. PART II of the Proceedings, pp. 936-1789. No dj, maroon cloth. Vg+ condition. Upper spine very slightly bumped; contents bright, crisp & clean, unread.
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Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,26
Expédition à EUR 15,71
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,450grams, ISBN:0748409688.
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Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16,42
Expédition à EUR 15,71
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,550grams, ISBN:9780748409686.
