Identification defects semiconductors (9 résultats)
Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Johnson, Noble M., Stephen G. Bishop, And George D. Watkins, Editors
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
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Hardcover. Etat : New. No Jacket. 1st Edition. Academic Press (1998). New Hardcover, no dj. Naroon cloth Gilt Front and Spine titles. 9.25"x6.25"x1.1". be42744.
Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Edité par Academic Press, 1998
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Edité par Academic Press, 1998
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EUR 114,36
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