Montant total (1 article articles) :
Destination de la commande :
lock in thermography basics use de breitenstein otwin (18 résultats)
Passer aux résultats principaux de la recherche
Filtres de recherche
Type d'article
- Tous les types de produits
- Livres (18)
- Magazines & Périodiques (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Bandes dessinées (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Partitions de musique (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Art, Affiches et Gravures (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Photographies (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Cartes (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Manuscrits & Papiers anciens (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Etat En savoir plus
- Neuf (14)
- Comme neuf, Très bon ou Bon (3)
- Assez bon ou satisfaisant (1)
- Moyen ou mauvais (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Conformément à la description (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Reliure
- Toutes
- Couverture rigide (18)
- Couverture souple (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Particularités
- Ed. originale (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Signé (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Jaquette (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Avec images (4)
- Sans impressions à la demande (14)
Langue (1)
Prix
- Tous les prix
- Moins de EUR 20 (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- EUR 20 à EUR 45 (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Plus de EUR 45
Livraison gratuite
Pays
Evaluation du vendeur
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 45,26
Autre deviseEUR 3,23 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,32
Autre deviseEUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 111,51
Autre deviseEUR 13,78 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 127,78
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 167,99
Autre deviseEUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10 : 3642024165 ISBN 13 : 9783642024160
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Autre deviseEUR 63,10 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the last 7 years, the rst edition of 'Lock-in Thermography' has established as a reference book for all users of this technique for investigating electronic devices, especially solar cells. At this time, a vital further development of lock-in therm- raphy could be observed. Not only the experimental technique was improved by applying new and better infrared cameras, solid immersion lenses, and novel t- ing strategies, but also completely new application elds of lock-in thermography were established by implying irradiation of light during the measurements. The two groups of new techniques are different kinds of Illuminated Lock-In Thermography (ILIT) and Carrier Density Imaging, resp. Infrared Lifetime Imaging (CDI/ILM). While ILIT is performed on solar cells, CDI/ILM is performed on bare wafers for imaging the local minority carrier lifetime and the local concentration of trapping centers. The new edition of this book implements these new developments. One new section entitled 'Timing strategies' is added. In this, new ways are introduced to overcome previous limitations of the choice of the lock-in frequency in comparison with the frame rate of the camera. The previous diffraction limit of the spatial resolution can be overcome by a factor of up to 4 by applying so-called solid immersion lenses. This technique is introduced and its application for failure analysis of ICs, where highest possible spatial resolution is desired, is shown in another new section.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,94
Autre deviseEUR 13,78 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 155,20
Autre deviseEUR 28,76 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
-
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10 : 3642024165 ISBN 13 : 9783642024160
Langue: anglais
EUR 83,88
Autre deviseEUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
-
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 216,18
Autre deviseEUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New.
-
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Edité par Springer International Publishing, 2019
ISBN 10 : 3319998242 ISBN 13 : 9783319998244
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 171,19
Autre deviseEUR 63,41 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 249,09
Autre deviseEUR 14,38 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics (10))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 238,13
Autre deviseEUR 28,76 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : New. New. book.
-
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 369,64
Autre deviseEUR 28,76 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
-
EUR 99,50
Autre deviseEUR 70 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Lock-in Thermography | Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials | Otwin Breitenstein (u. a.) | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2010 | Springer-Verlag GmbH | EAN 9783642024160 | Verantwortliche Person für die EU: Lauinger, Sonia, Sonia Lauinger, Lauinger Verlag, Heinrich-Köhler-Platz 8, 76187 Karlsruhe, mail[at]lauinger-verlag[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
-
Lock-in Thermography | Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Edité par Springer International Publishing, 2019
ISBN 10 : 3319998242 ISBN 13 : 9783319998244
Langue: anglais
EUR 150,15
Autre deviseEUR 70 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Lock-in Thermography | Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials | Otwin Breitenstein (u. a.) | Buch | xxi | Englisch | 2019 | Springer International Publishing | EAN 9783319998244 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
-
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 230,33
Autre deviseEUR 7,48 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand.
-
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 233,31
Autre deviseEUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND.
