Progress structures devices operating (24 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Langue : anglais
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Etat : Used. pp. 368.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Edité par Springer, 2002
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Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer 2002-04, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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PF. Etat : New.
Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions
. Ed(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S.
Langue : anglais
Edité par Kluwer Academic Publishers, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandeKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Etat : New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, held in Kyiv, Ukraine, October 15-20, 2000 Editor(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 351 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 160 x 19. Weight in Grams: 516. . 2002. Softcover reprint of the original 1st ed. 2002. Paperback. . . . .
Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions
. Ed(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S.
Langue : anglais
Edité par Kluwer Academic Publishers, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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EUR 9,50 expéditionExpédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Etat : New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, held in Kyiv, Ukraine, October 15-20, 2000 Editor(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 351 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 20. Weight in Grams: 691. . 2002. Hardback. . . . .
Langue : anglais
Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 29,18 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer Netherlands, Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - A review of the electrical properties, performance and physical mechanisms of the main silicon-on-insulator (SOI) materials and devices. Particular attention is paid to the reliability of SOI structures operating in harsh conditions. The first part of…the book deals with material technology and describes the SIMOX and ELTRAN technologies, the smart-cut technique, SiCOI structures and MBE growth. The second part covers reliability of devices operating under extreme conditions, with an examination of low and high temperature operation of deep submicron MOSFETs and novel SOI technologies and circuits, SOI in harsh environments and the properties of the buried oxide. The third part deals with the characterization of advanced SOI materials and devices, covering laser-recrystallized SOI layers, ultrashort SOI MOSFETs and nanostructures, gated diodes and SOI devices produced by a variety of techniques. The last part reviews future prospects for SOI structures, analyzing wafer bonding techniques, applications of oxidized porous silicon, semi-insulating silicon materials, self-organization of silicon dots and wires on SOI and some new physical phenomena.
Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions
. Ed(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S.
Langue : anglais
Edité par Kluwer Academic Publishers, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-UnisKennys Bookstore
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EUR 320,79
EUR 9,08 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Etat : New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, held in Kyiv, Ukraine, October 15-20, 2000 Editor(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 351 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 160 x 19. Weight in Grams: 516. . 2002. Softcover reprint of the original 1st ed. 2002. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions
. Ed(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S.
Langue : anglais
Edité par Kluwer Academic Publishers, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-UnisKennys Bookstore
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EUR 324,03
EUR 9,08 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Etat : New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, held in Kyiv, Ukraine, October 15-20, 2000 Editor(s): Balestra, Francis; Nazarov, Alexei N. (National Academy of Science of Ukraine); Lysenko, Vladimir S. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 351 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P)… Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 20. Weight in Grams: 691. . 2002. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Langue : anglais
Edité par Springer Nature B.V. Apr 2002, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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Buch. Etat : Neu. Neuware - A review of the electrical properties, performance and physical mechanisms of the main silicon-on-insulator (SOI) materials and devices. Particular attention is paid to the reliability of SOI structures operating in harsh conditions. The first part of the book deals with material technology and descri…bes the SIMOX and ELTRAN technologies, the smart-cut technique, SiCOI structures and MBE growth. The second part covers reliability of devices operating under extreme conditions, with an examination of low and high temperature operation of deep submicron MOSFETs and novel SOI technologies and circuits, SOI in harsh environments and the properties of the buried oxide. The third part deals with the characterization of advanced SOI materials and devices, covering laser-recrystallized SOI layers, ultrashort SOI MOSFETs and nanostructures, gated diodes and SOI devices produced by a variety of techniques. The last part reviews future prospects for SOI structures, analyzing wafer bonding techniques, applications of oxidized porous silicon, semi-insulating silicon materials, self-organization of silicon dots and wires on SOI and some new physical phenomena.
Langue : anglais
Edité par Springer Netherlands, Springer Netherlands Apr 2002, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -A review of the electrical properties, performance and physical mechanisms of the main silicon-on-insulator (SOI) materials and devices. Particular attention is paid to the reliability of SOI structures operating in harsh conditions. Th…e first part of the book deals with material technology and describes the SIMOX and ELTRAN technologies, the smart-cut technique, SiCOI structures and MBE growth. The second part covers reliability of devices operating under extreme conditions, with an examination of low and high temperature operation of deep submicron MOSFETs and novel SOI technologies and circuits, SOI in harsh environments and the properties of the buried oxide. The third part deals with the characterization of advanced SOI materials and devices, covering laser-recrystallized SOI layers, ultrashort SOI MOSFETs and nanostructures, gated diodes and SOI devices produced by a variety of techniques. The last part reviews future prospects for SOI structures, analyzing wafer bonding techniques, applications of oxidized porous silicon, semi-insulating silicon materials, self-organization of silicon dots and wires on SOI and some new physical phenomena. 364 pp. Englisch.
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Edité par Springer, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Progress in SOI Structures and Devices Operating at Extreme Conditions | Francis Balestra (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2002 | Springer | EAN 9781402005763 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | A…nbieter: preigu Print on Demand.
Langue : anglais
Edité par Springer Netherlands, Springer Apr 2002, 2002
Série : Livre 225 sur 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
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- impression à la demande
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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EUR 213,99
EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -A review of the electrical properties, performance and physical mechanisms of the main silicon-on-insulator (SOI) materials and devices. Particular attention is paid to the reliability of SOI structures operating in harsh conditions. The fi…rst part of the book deals with material technology and describes the SIMOX and ELTRAN technologies, the smart-cut technique, SiCOI structures and MBE growth. The second part covers reliability of devices operating under extreme conditions, with an examination of low and high temperature operation of deep submicron MOSFETs and novel SOI technologies and circuits, SOI in harsh environments and the properties of the buried oxide. The third part deals with the characterization of advanced SOI materials and devices, covering laser-recrystallized SOI layers, ultrashort SOI MOSFETs and nanostructures, gated diodes and SOI devices produced by a variety of techniques. The last part reviews future prospects for SOI structures, analyzing wafer bonding techniques, applications of oxidized porous silicon, semi-insulating silicon materials, self-organization of silicon dots and wires on SOI and some new physical phenomena.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 364 pp. Englisch.
