Reliability modeling applications essays (15 résultats)
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EUR 3,46 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-UnisBasi6 International
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Langue : anglais
Edité par World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2013
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 3,46 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. pp. 380.
Langue : anglais
Edité par World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2013
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 7,61 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. pp. 380.
Langue : anglais
Edité par World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2013
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Used. pp. 380.
Reliability Modeling With Applications : Essays in Honor of Professor Toshio Nakagawa on His 70th Birthday
Nakamura, Syouji (EDT); Qian, Cun Hua (EDT); Chen, Mingchih (EDT)
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 2,29 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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EUR 5,88 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
HRD. Etat : New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
Reliability Modeling With Applications : Essays in Honor of Professor Toshio Nakagawa on His 70th Birthday
Nakamura, Syouji (EDT); Qian, Cun Hua (EDT); Chen, Mingchih (EDT)
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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Etat : New.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 14,03 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Reliability Modeling With Applications : Essays in Honor of Professor Toshio Nakagawa on His 70th Birthday
Nakamura, Syouji (EDT); Qian, Cun Hua (EDT); Chen, Mingchih (EDT)
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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Reliability Modeling With Applications : Essays in Honor of Professor Toshio Nakagawa on His 70th Birthday
Nakamura, Syouji (EDT); Qian, Cun Hua (EDT); Chen, Mingchih (EDT)
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 2,29 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 14,64 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Hardcover. Etat : Brand New. 364 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
