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Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications
Vendeur : Firefly Bookstore, Kutztown, PA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 13,10
Autre deviseEUR 5,09 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Used Very Good. Front and back covers have light edge and corner wear. Spine intact with no creasing or warping. Binding is tight and intact, pages clean and unmarked. Firefly sells new and used books through our store front. We try to add a detailed description to as many titles as possible. If you have questions regarding this title, please contact us. Photos available on request.
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Proceedings of the Fifth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and the First International Conference on Nanometer . 1990, Hyatt Regency, Baltimore, Maryland, USA
Edité par Published for the American Vacuum Society by the American Institute of Physics January 1991, 1991
ISBN 10 : 0883189089 ISBN 13 : 9780883189085
Langue: anglais
Vendeur : BookMarx Bookstore, Steubenville, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 24,44
Autre deviseEUR 5,09 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Support Small Business by buying this book! Pages are clean and unmarked, though modest aging/tanned on edges of pages. Binding square. Defect on spine, wrinkled. Previous owner has name on front cover and page edges.
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Proceedings of the Fourth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy / Spectroscopy 9-14 July 1989
Edité par American Institue of Physics, 1990
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 14,23
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Fine. 720 pp., Hardcover, fine. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Study of the surface layer of silicon with indium coating: Scanning tunneling microscopy and spectroscopy of structural formations on Si(111) and Si(557) surfaces with clusters
Edité par Our Knowledge Publishing, 2025
ISBN 10 : 6202210702 ISBN 13 : 9786202210706
Langue: anglais
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 25,80
Autre deviseEUR 7,62 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. SUPER FAST SHIPPING.
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![Image d'archives pour Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques [With CDROM] mis en vente par ThriftBooks-Atlanta](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780735401686-fr-300.jpg)
Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques [With CDROM]
Edité par American Institute of Physics, 2003
ISBN 10 : 0735401683 ISBN 13 : 9780735401686
Langue: anglais
Vendeur : ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,27
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. No Jacket. Former library book; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 1.05.
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Proceedings. Fifth International conference on Scanning Tunneling microscopy/spectroscopy and First International Conference on Nanometer Scale Science and Technology
Edité par American Institute of Physics, NY, 1991
ISBN 10 : 0883189089 ISBN 13 : 9780883189085
Langue: anglais
Vendeur : Blue Heron Books, Claremont, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 34,95
Autre deviseEUR 4,67 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHard Bound. Etat : Near Fine. No Jacket. First edition. Very clean unworn volume.
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Scanning tunneling microscopy and spectroscopy: Theory, techniques, and applications
Vendeur : Broad Street Books, Branchville, NJ, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 78,59
Autre deviseEUR 4,20 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : As New. Book is in excellent condition, text is unmarked and pages are tight.
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Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications
Vendeur : Book Booth, Berea, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 83
Autre deviseEUR 3,82 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Ink marks inside front cover & on first blank page, else text clean; binding tight; very minor wear to covers. 436 pages. Illustrated. "This book covers fundamental concepts of STM operation, image interpretation, instrumentation, and techniques for various applications. It also contains advanced treatments of theory and spectroscopy." Size: 6 1/2" x 9 1/2".
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Proceedings of 13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy / Spectroscopy and Related Techniques in conjunction with 13th International Colloquim on Scanning Probe Microscopy.
Date d'édition : 2005
Langue: anglais
Vendeur : ralfs-buecherkiste, Herzfelde, MOL, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 19
Autre deviseEUR 29 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover/ Pappband. Etat : Gut. 505 S. guter Zustand/ good With figures and tables. altersbedingt guter Zustand, angestaubt ha1055878 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1400.
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EUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Gut. Zustand: Gut | Produktart: Sonstiges.
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EUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Produktart: Sonstiges.
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Ab Initio Modelling of Scanning Tunneling Spectroscopy and Microscopy
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2011
ISBN 10 : 3639365534 ISBN 13 : 9783639365535
Langue: anglais
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 114,41
Autre deviseEUR 3,38 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 232.
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Thin Film Morphology Control by Electronic and Chemical Interactions: A Scanning Tunneling Microscopy and Photoelectron Spectroscopy Study
Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing, 2012
ISBN 10 : 3659195014 ISBN 13 : 9783659195013
Langue: anglais
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 108,96
Autre deviseEUR 28,75 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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Nitrogen Containing III-V Semiconductor Surfaces and Nanostructures | Studied by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy
Edité par Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG Co. KG, 2015
ISBN 10 : 3838111834 ISBN 13 : 9783838111834
Langue: anglais
EUR 69,90
Autre deviseEUR 70 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Nitrogen Containing III-V Semiconductor Surfaces and Nanostructures | Studied by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy | Lena Ivanova | Taschenbuch | 144 S. | Deutsch | 2015 | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG Co. KG | EAN 9783838111834 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu.
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Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy Theory, Techniques, and Applications.
Vendeur : Abrahamschacht-Antiquariat Schmidt, Freiberg, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 140
Autre deviseEUR 16 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panier8° Pappeinband. ohne Schutzumschlag Lesespuren an Einband und Rücken Block sauber und fest ohne handschriftliche Einträge oder Anstreichungen ehemaliges Bibliotheksexemplar mit Stempeln Einträgen und Signatur im Vorsatz 436 Englisch 800g.
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Scanning tunneling microscopy and spectroscopy: Theory, techniques, and applications
Vendeur : GoldBooks, Denver, CO, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 161,29
Autre deviseEUR 3,61 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. New Copy. Customer Service Guaranteed.
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Nitrogen Containing Iii-V Semiconductor Surfaces And Nanostructures: Studied By Scanning Tunneling Microscopy And Spectroscopy
Edité par Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 2010
ISBN 10 : 3838111834 ISBN 13 : 9783838111834
Langue: anglais
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 162,20
Autre deviseEUR 28,75 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 144 pages. 8.66x5.91x0.33 inches. In Stock.
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Nitrogen Containing Iii-V Semiconductor Surfaces And Nanostructures: Studied By Scanning Tunneling Microscopy And Spectroscopy
Edité par Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 2010
ISBN 10 : 3838111834 ISBN 13 : 9783838111834
Langue: anglais
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 163,04
Autre deviseEUR 28,75 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 144 pages. 8.66x5.91x0.33 inches. In Stock.
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Study of the surface layer of silicon with indium coating : Scanning tunneling microscopy and spectroscopy of structural formations on Si(111) and Si(557) surfaces with clusters
Edité par Our Knowledge Publishing, 2025
ISBN 10 : 6202210702 ISBN 13 : 9786202210706
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 26,11
Autre deviseEUR 60,75 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering.
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Thin Film Morphology Control by Electronic and Chemical Interactions : A Scanning Tunneling Microscopy and Photoelectron Spectroscopy Study
Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing, 2012
ISBN 10 : 3659195014 ISBN 13 : 9783659195013
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 49
Autre deviseEUR 60,66 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Studies of thin film growth involve interdependent chemical, electronic and mechanical properties whose comprehensive understanding is critical for predicting thin film morphology and properties. Self assembly of organic molecules on a metal substrate lays the groundwork for structures desired in nanotechnology applications. The three classes of films which I investigate are: monolayer MoS2 with strong Mo-S bonding, anthracene films formed by weak van der Waals interactions, and anthraquinine (AQ) honeycomb networks assembled by the interplay of local hydrogen bonding and substrate-mediated long range interactions. In this book, scanning tunneling microscopy (STM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and angular resolved ultraviolet photoelectron spectroscopy (ARUPS) have been used to investigate monolayer and sub-monolayer thin films grown on a Cu(111) substrate. My research focuses on the use of STM, XPS and ARUPS to investigate the role of ionic bonding, van der Waals interaction, hydrogen bonding and surface mediated interactions during growth of thin films and how to tailor the film morphology by controlling these interactions.
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EUR 60,51
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierKartoniert / Broschiert. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Dick AlexeyAfter studying radiophysics at the Belarus State University became a research associate at the IHP GmbH and later at the Fritz-Haber-Institute of the Max-Planck-Society. Since 2010 heads the Precipitation and Kinetics res.
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Ab Initio Modelling of Scanning Tunneling Spectroscopy and Microscopy
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2011
ISBN 10 : 3639365534 ISBN 13 : 9783639365535
Langue: anglais
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 118,24
Autre deviseEUR 7,47 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 232 2:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on Creme w/Gloss Lam.
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Nitrogen Containing III-V Semiconductor Surfaces and Nanostructures : Studied by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy
Edité par Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften AG Co. KG, 2010
ISBN 10 : 3838111834 ISBN 13 : 9783838111834
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 69,90
Autre deviseEUR 61,17 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Different nitrogen containing III-V semiconductor surfaces and nanostructures are studied using scanning tunneling microscopy and spectroscopy. In diluted GaAsN layers single nitrogen atoms can be identified. The measured density of states shows that nitrogen impurities lead to a splitting of the GaAs conduction band. The incorporation of nitrogen with a nominal concentration of 9% into InAs/GaAs QDs leads to a strong dissolution and the formation of extended spherical nitrogen-free InGaAs QDs with a low indium content. Furthermore, for the GaN(1-100) cleavage surface of epitaxially grown GaN substrates it is found that both the nitrogen and gallium derived intrinsic dangling bond surface states are outside of the fundamental bulk band gap. The observed Fermi level pinning at 1.0 eV below the conduction band edge is attributed to the high step density, but not to intrinsic surface states. In GaN wafers dislocations are found to form localized bunches of entangled nonparallel dislocation lines. The charge and the Burgers vector of these dislocations are identified. Finally, an epitaxially grown silicon doping modulation structure is imaged.
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Ab Initio Modelling of Scanning Tunneling Spectroscopy and Microscopy
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2011
ISBN 10 : 3639365534 ISBN 13 : 9783639365535
Langue: anglais
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 123,12
Autre deviseEUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 232.
