Cmos Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test

Livre 21 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov, Andrei; Sachdev, Manoj

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Edité par Springer, 2010
Langue: anglais
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