Baba mamoru (5 résultats)

Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices.
Nakamura, Takashi/Ibe, Eishi/Baba, Mamoru/Yahagi, Yasuo/Kameyama, Hideaki
- Couverture rigide
Vendeur : Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, AllemagneUniversitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 3 étoilesEtat: Occasion
EUR 21,00
EUR 30,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
15 x 23 cm. 368 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.

Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Nakamura, Takashi; Ibe, Eishi; Baba, Mamoru; Yahagi, Yasuo; Kameyama, Hideaki
- Couverture rigide
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-UnisRomtrade Corp.
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 104,38
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.

Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Hideaki Kameyama Yasuo Yahagi Eishi Ibe Mamoru Baba Takashi Nakamura
Langue : anglais
Edité par World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2008
- Couverture rigide
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Occasion
EUR 120,12
EUR 3,46 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Used. pp. xxii + 343 Index.

Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Kameyama Hideaki Yahagi Yasuo Ibe Eishi Baba Mamoru Nakamura Takashi
Langue : anglais
Edité par World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2008
- Couverture rigide
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Occasion
EUR 121,33
EUR 7,59 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Used. pp. xxii + 343 Figures, Illus.

Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Kameyama Hideaki Yahagi Yasuo Ibe Eishi Baba Mamoru Nakamura Takashi
Langue : anglais
Edité par World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2008
- Couverture rigide
Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 4 étoilesEtat: Occasion
EUR 121,78
EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Used. pp. xxii + 343.