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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences)
Sadewasser, Sascha (Editor) / Glatzel, Thilo (Editor)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2013
3642271138 / 9783642271137
Série : Livre 2 sur 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Couverture souple
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
Vendeur avec une évaluation de 5 étoiles
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Etat: Neuf
EUR 156,00
EUR 14,61 expédition
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Paperback. Etat : Brand New. 2012 edition. 290 pages. 9.25x6.10x0.79 inches. In Stock.
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Sadewasser, Sascha (Editor)/ Glatzel, Thilo (Editor)
Langue : anglais
Edité par Springer Verlag, 2011
3642225659 / 9783642225659
Série : Livre 2 sur 30 - Springer Series in Surface Sciences
- Couverture rigide
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 157,49
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Hardcover. Etat : Brand New. 2012 edition. 345 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.