Rohit singhal (8 résultats)
Unique Chips and Systems
John, Eugene & Juan Rubio & Vojin G. Oklobdzija & Stephen W. Keckler & Tao Li & Chand John & Rabi N. Mahapatra & Rohit Singhal & Darren J. Kerbyson & Praveen Sunder Bhojwani & Nikos Pistianis & Ramadass Nagarajan & Rajagopalan Deikan & He
Langue : anglais
Edité par CRC Press, 2007
Série : Computer Engineering Series, Livre 4 sur 7. Livre 4 sur 7 - Computer Engineering Series
- Couverture rigide
Vendeur : Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, Etats-UnisMahler Books
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EUR 90,12
EUR 4,33 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Very Good. This book is in very good condition; no remainder marks. Appears to have been gently used. Inside pages are clean. ; Computer Engineering Series; 6.75 X 0.97 X 9.47 inches; 386 pages.
Langue : anglais
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2009
- Couverture souple
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 94,08
EUR 3,49 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 132.
- Couverture souple
Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 51,10
EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Data Integrity for On-Chip Interconnects | A Communication Theoretic Approach | Rohit Singhal | Taschenbuch | Englisch | VDM Verlag Dr. Müller | EAN 9783639203660 | Verantwortliche Person für die EU: VDM Verlag Dr. Müller, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbie…ter: preigu.
- Couverture souple
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 140,11
EUR 29,32 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 46,32
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Kartoniert / Broschiert. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Singhal RohitDr. Singhal is a Senior Design Engineer, at Integrated Device Technology Inc. Dr. Choi and Dr. Mahapatra are both Associate Professors at Texas A&M University. This wor…k resulted from Dr. Singhal s doctoral research .
Langue : anglais
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2009
- Couverture souple
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 96,44
EUR 7,62 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. Print on Demand pp. 132 2:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on Creme w/Gloss Lam.
Langue : anglais
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2009
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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EUR 96,85
EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 132.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 59,71
EUR 61,07 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The desire for having a smaller-faster chip that does more than ever before, has led to shrinking feature size and growing integration density. This integration has left designers grappling with increasing concerns of signal-integrity (SI),…timing- closure and power-consumption. Firstly, the shrinking feature size has resulted in greater delays. Further, the adjacent wires are now very close and cause Cross-talk to each other's signals. Traditional designs focus on protecting SI on long parallel wires. The SI designs accomodate the worst case delays of signals; while they aim to improve the worst-case delays at a circuit level using novel tricks, they are transparent to the actual data carried in the wires. Departing from this trend, this work aims to introduce an information theoretic approach to address data-integrity (DI). A novel approach for evaluating the data carrying capacity of long parallel wires is presented herein. This capacity is much greater than the data-rate achieved by SI designs. This work also proposes several practical designs with data-rate approaching this capacity.
