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Advances in X-Ray Analysis, Volume 39
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8,26
Autre deviseEUR 3,84 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. *Price HAS BEEN temporarily REDUCED by 10% until Monday, Oct. 6 (sale item)* 908 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Advances in X-Ray Analysis
Edité par Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1998
ISBN 10 : 0306458039 ISBN 13 : 9780306458033
Langue: anglais
EUR 6,99
Autre deviseEUR 22,50 expédition depuis France vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque. Légères traces d'usure sur la couverture. Tome 39. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Slight signs of wear on the cover. Volume 39. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Advances In X-Ray Analysis
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 71,79
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 8 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Edition internationaleAdvances In X-Ray Analysis
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 71,79
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Advances In X-Ray Analysis
Vendeur : SMASS Sellers, IRVING, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 74,96
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 39
Vendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 78,46
Autre deviseGratuit expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 8 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 80,05
Autre deviseEUR 7,45 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 84,35
Autre deviseEUR 3,40 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 85,48
Autre deviseEUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 99,09
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fair. No Jacket. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 0.3.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Edité par Wiley & Sons, Incorporated, John, 1996
ISBN 10 : 0471513393 ISBN 13 : 9780471513391
Langue: anglais
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 109,01
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 173,76
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 168,19
Autre deviseEUR 7,66 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 177,99
Autre deviseEUR 3,40 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 188,28
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 178,48
Autre deviseEUR 13,74 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 178,47
Autre deviseEUR 17,20 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 188,78
Autre deviseEUR 17,20 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Advances in X-ray Analysis
Edité par Springer Science+Business Media, 1998
ISBN 10 : 0306458039 ISBN 13 : 9780306458033
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 250,26
Autre deviseEUR 10,50 expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Proceedings of the Forty-fourth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Colorado, Springs, Colorado, July 31-August 4, 1995 Editor(s): Gilfrich, John V.; Noyan, I. Cev; Jenkins, Ron; Huang, Ting C.; Snyder, Robert L.; Smith, Deane K.; Zaitz, Mary Ann; Predecki, Paul K. Num Pages: 908 pages, biography. BIC Classification: PNFS; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178 x 49. Weight in Grams: 1950. . 1998. Hardback. . . . .
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Advances in X-ray Analysis
Edité par Springer Science+Business Media, 1998
ISBN 10 : 0306458039 ISBN 13 : 9780306458033
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 262,11
Autre deviseEUR 8,96 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Proceedings of the Forty-fourth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Colorado, Springs, Colorado, July 31-August 4, 1995 Editor(s): Gilfrich, John V.; Noyan, I. Cev; Jenkins, Ron; Huang, Ting C.; Snyder, Robert L.; Smith, Deane K.; Zaitz, Mary Ann; Predecki, Paul K. Num Pages: 908 pages, biography. BIC Classification: PNFS; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178 x 49. Weight in Grams: 1950. . 1998. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 286,56
Autre deviseEUR 3,40 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 432 Index.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 264,76
Autre deviseEUR 28,67 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 403 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 39
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 300,18
Autre deviseEUR 13,74 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 321,79
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis (Hardcover)
Edité par Springer Science+Business Media, New York, 1998
ISBN 10 : 0306458039 ISBN 13 : 9780306458033
Langue: anglais
Vendeur : Grand Eagle Retail, Mason, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 344,35
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Hardcover. The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. The year 1995 was a special year for the X-ray analysis community, since it represented the 100th anniversary ofthe discovery ofX-rays by Wilhelm Roentgen. In commemoration of this event, the Plenary Session of the conference was entitled "THE ROENTGEN COMMEMORATIVE SESSION:1895-1995, "100 YEARS OF PROGRESS IN X-RA Y SCIENCE AND APPLICATIONS". It is interesting to note that while we celebrate 100 years ofthe use ofX-ray techniques in general, and about 80 years ofX-ray diffraction and spectroscopy in particular, the Denver X-ray Conference has been in place for about half ofthat time period! Like the X-ray methods it represents, the Denver Conference on Applications ofX-ray Analysis has grown and matured, has survived the rigors oftime, and today, provides the worlds' best annual forum for the exchange of experiences and developments in the various fields ofX-ray analysis. Imagine, when the Denver Conference started in 1951, there were no personal computer- in fact, there were no computers, period! There was no SEM, no microprobe, there were no Si(Li) detectors, no transistors, no synchrotrons, Hugo Rietveld was a child, and many members who regularly attend Denver Meetings today, weren't even born yet! As I write this foreword, a copy of volurne 1 of Advances in X-ray Analysis lays in front of me on my desk. The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 356,52
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 336,82
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Proceedings of the Forty-fourth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Colorado, Springs, Colorado, July 31-August 4, 1995 The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sherat.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 39
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 474,63
Autre deviseEUR 69,07 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware - The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. The year 1995 was a special year for the X-ray analysis community, since it represented the 100th anniversary ofthe discovery ofX-rays by Wilhelm Roentgen. In commemoration of this event, the Plenary Session of the conference was entitled 'THE ROENTGEN COMMEMORATIVE SESSION:1895-1995, '100 YEARS OF PROGRESS IN X-RA Y SCIENCE AND APPLICATIONS'. It is interesting to note that while we celebrate 100 years ofthe use ofX-ray techniques in general, and about 80 years ofX-ray diffraction and spectroscopy in particular, the Denver X-ray Conference has been in place for about half ofthat time period! Like the X-ray methods it represents, the Denver Conference on Applications ofX-ray Analysis has grown and matured, has survived the rigors oftime, and today, provides the worlds' best annual forum for the exchange of experiences and developments in the various fields ofX-ray analysis. Imagine, when the Denver Conference started in 1951, there were no personal computer- in fact, there were no computers, period! There was no SEM, no microprobe, there were no Si(Li) detectors, no transistors, no synchrotrons, Hugo Rietveld was a child, and many members who regularly attend Denver Meetings today, weren't even born yet! As I write this foreword, a copy of volurne 1 of Advances in X-ray Analysis lays in front of me on my desk.
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Advances in X-Ray Analysis (Hardcover)
Edité par Springer Science+Business Media, New York, 1998
ISBN 10 : 0306458039 ISBN 13 : 9780306458033
Langue: anglais
Vendeur : AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 555,77
Autre deviseEUR 31,56 expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Hardcover. The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. The year 1995 was a special year for the X-ray analysis community, since it represented the 100th anniversary ofthe discovery ofX-rays by Wilhelm Roentgen. In commemoration of this event, the Plenary Session of the conference was entitled "THE ROENTGEN COMMEMORATIVE SESSION:1895-1995, "100 YEARS OF PROGRESS IN X-RA Y SCIENCE AND APPLICATIONS". It is interesting to note that while we celebrate 100 years ofthe use ofX-ray techniques in general, and about 80 years ofX-ray diffraction and spectroscopy in particular, the Denver X-ray Conference has been in place for about half ofthat time period! Like the X-ray methods it represents, the Denver Conference on Applications ofX-ray Analysis has grown and matured, has survived the rigors oftime, and today, provides the worlds' best annual forum for the exchange of experiences and developments in the various fields ofX-ray analysis. Imagine, when the Denver Conference started in 1951, there were no personal computer- in fact, there were no computers, period! There was no SEM, no microprobe, there were no Si(Li) detectors, no transistors, no synchrotrons, Hugo Rietveld was a child, and many members who regularly attend Denver Meetings today, weren't even born yet! As I write this foreword, a copy of volurne 1 of Advances in X-ray Analysis lays in front of me on my desk. The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
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Introduction to X-Ray Powder Diffractometry
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 249,07
Autre deviseEUR 28,67 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 403 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
