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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Vendeur : Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 21,68
Autre deviseEUR 16 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : AwesomeBooks, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 44,93
Autre deviseEUR 5,73 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Very Good. High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) This book is in very good condition and will be shipped within 24 hours of ordering. The cover may have some limited signs of wear but the pages are clean, intact and the spine remains undamaged. This book has clearly been well maintained and looked after thus far. Money back guarantee if you are not satisfied. See all our books here, order more than 1 book and get discounted shipping. .
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Bahamut Media, Reading, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 44,93
Autre deviseEUR 8,01 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Very Good. Shipped within 24 hours from our UK warehouse. Clean, undamaged book with no damage to pages and minimal wear to the cover. Spine still tight, in very good condition. Remember if you are not happy, you are covered by our 100% money back guarantee.
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Zwischen Vergessen und Erinnerung - Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel.
Vendeur : KULTur-Antiquariat, Boizenburg, MV, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 9,60
Autre deviseEUR 17 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierGebundene Ausgabe. Etat : Gut. 96 Seiten, bebildert. Einband leicht berieben, ansonsten gut erhalten. ISBN: 9783000084423 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Vendeur : Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 21,85
Autre deviseEUR 40 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 53,95
Autre deviseEUR 13,75 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In English.
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Neuerwerbungen 1974-1979.
Edité par Museum für Kunst- und Kulturgeschichte, Lübeck, 1980
Langue: allemand
EUR 9
Autre deviseEUR 20 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierkartonierte Ausgabe. Etat : Gut. 101 Seiten, schwarz-weiße Abbildungen, Inhaltsverzeichnis, abgekürzt zitierte Literatur, illustrierter Einband Dieser Auswahlkatalog erschien anläßlich der Ausstellung "Neuerwerbungen 1974-1979" im Museum Behnhaus vom 13. Juni bis 20. Juli 1980. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 200.
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EUR 43,21
Autre deviseEUR 29,90 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. 2. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Toscana Books, AUSTIN, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 76,06
Autre deviseEUR 3,71 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 81,17
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 75,19
Autre deviseEUR 6,74 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 73,19
Autre deviseEUR 17,78 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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High-resolution X-ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 93,90
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 94,58
Autre deviseEUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 83,33
Autre deviseEUR 17,22 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 93,57
Autre deviseEUR 13,75 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 109,66
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 93,69
Autre deviseEUR 17,78 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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High-resolution X-ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 111,79
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : BennettBooksLtd, San Diego, NV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 114,67
Autre deviseEUR 5,99 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 129,80
Autre deviseEUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 428.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 131,57
Autre deviseEUR 3,44 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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High-Resolution X-Ray Scattering (Hardcover)
Edité par Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2004
ISBN 10 : 0387400923 ISBN 13 : 9780387400921
Langue: anglais
Vendeur : Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 150,01
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Hardcover. The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 140,03
Autre deviseEUR 13,75 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Edité par Springer New York, Springer US Dez 2011, 2011
ISBN 10 : 1441923071 ISBN 13 : 9781441923073
Langue: anglais
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 96,29
Autre deviseEUR 60 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 428 pp. Englisch.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 146,62
Autre deviseEUR 17,22 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 137,18
Autre deviseEUR 28,70 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 168,49
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 141,38
Autre deviseEUR 28,70 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Edité par Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10 : 1441923071 ISBN 13 : 9781441923073
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 100,94
Autre deviseEUR 63,23 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
