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contamination defects faults yield loss de khare jitendra b maly wojciech (24 résultats)
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 24,17
Autre deviseEUR 3,89 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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From Contamination To Defects, Faults And Yield Loss
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 74,10
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Brand New. New. US edition. Excellent Customer Service.
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From Contamination To Defects, Faults And Yield Loss
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 74,10
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Vendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 82,36
Autre deviseGratuit expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Vendeur : BennettBooksLtd, San Diego, NV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 87,18
Autre deviseEUR 6,01 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,04
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,35
Autre deviseEUR 3,45 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 116,52
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 122,62
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,90
Autre deviseEUR 13,81 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,90
Autre deviseEUR 13,81 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 23,70
Autre deviseEUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,89
Autre deviseEUR 17,29 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 127,93
Autre deviseEUR 17,29 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 142,69
Autre deviseEUR 3,45 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Edité par Kluwer Academic Publishers, 1996
ISBN 10 : 0792397142 ISBN 13 : 9780792397144
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 149,41
Autre deviseEUR 10,50 expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . .
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing (5))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 162,66
Autre deviseEUR 28,82 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Edité par Kluwer Academic Publishers, 1996
ISBN 10 : 0792397142 ISBN 13 : 9780792397144
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 187,78
Autre deviseEUR 9,08 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 194,85
Autre deviseEUR 2,28 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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From Contamination to defects, faults and yield Loss. Simulation and Applications
Vendeur : Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Allemagne
Membre d'association : GIAQ
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16
Autre deviseEUR 38 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierKluwer Academic Publishers, Boston, 1996. 150 pages, Paperback--- - former library book in good condition - 468 Gramm.
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EUR 92,27
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this gre.
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EUR 92,27
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this gre.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 149,82
Autre deviseEUR 7,49 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 172 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 151,46
Autre deviseEUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 172.
