Digital speckle pattern interferometry (22 résultats)
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Hardcover. 26 x 18 cm. Original black cardboard ribbon. XVII, 310 pages with many monochrome illustrations. Apparently unused book in good condition. --- Schwarzer originaler Pappband. XVII, 310 Seiten mit vielen einfarbigen Abbildungen. Offenbar unbenutztes Exemplar in gutem Zustand. -- Bitte Portokosten außerhalb EU erfragen!…/ Please ask for postage costs outside EU! / S ' il vous plait demander des frais de port en dehors de l ' UE! // Bitte beachten Sie auch unsere Fotos! / Please also note our photos! / Veuillez noter nos photos -- Sommerzeit daheim oder auf Reisen: bei uns finden Sie sicher ein passendes Buch zur Begleitung. -- Wir kaufen Ihre werthaltigen Bücher! Tech.
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Paperback. Etat : Brand New. 56 pages. 8.66x5.91x0.13 inches. In Stock.
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Hardcover. Etat : Brand New. illustrated edition. 330 pages. 10.00x7.25x1.00 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Denoising in digital speckle pattern interferometry by Riesz wavelets | Abdelkrim Nassim (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2018 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786139873821 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de… | Anbieter: preigu.
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Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-UniAnybook.com
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Etat : Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,850grams, ISBN:9780471490524.
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Vendeur : Buchpark, Trebbin, AllemagneBuchpark
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 384 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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Etat : New. The instructive nature of this volume should make it an excellent text for engineers and physicists. Extended bibliographies serve as an excellent source of information for those wanting to go into greater depth on a specific topic. Editor(s): Rastogi, Pramod. Num Pages: 384 pages, bibliographies. BIC Classification:… PH; TBC; TTB. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 233 x 162 x 36. Weight in Grams: 732. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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Etat : New. this book is a welcome addition to the speckle pattern interferometry literature. The book is an excellent value for any graduate student, application engineer, research laboratory and group working in this field. Reading this book is a very enjoyable expe.
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Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-UnisKennys Bookstore
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Etat : New. The instructive nature of this volume should make it an excellent text for engineers and physicists. Extended bibliographies serve as an excellent source of information for those wanting to go into greater depth on a specific topic. Editor(s): Rastogi, Pramod. Num Pages: 384 pages, bibliographies. BIC Classification:… PH; TBC; TTB. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 233 x 162 x 36. Weight in Grams: 732. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 671,66
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Buch. Etat : Neu. Neuware - Ein modernes Buch für Ingenieure und Physiker! Theorie, Anwendung, Auswertung und spezielle Aspekte der Speckle-Interferometrie werden ausführlich erläutert. Eine umfangreiche Bibliographie erleichtert den Zugang zur weiterführenden Literatur. (11/00).
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 758,23
EUR 14,76 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Hardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 368 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and exp…erimental mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain. 56 pp. Englisch.
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and experim…ental mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 56 pp. Englisch.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and experime…ntal mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain.
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Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-UniPBShop.store UK
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Hardcover. Etat : new. Hardcover. Digital Speckle Interferometry and Related Techniques provides a single source of information in this rapidly progressing field. Containing contributions from leading experts, it provides the key background information, including the fundamental concepts, techniques, and applications, and presen…ts the major technological progress that has contributed to revitalization in the field over the past fifteen years, including digital speckle photography and digital holographic interferometry. The instructive nature of this volume should make it an excellent text for engineers and physicists. Extended bibliographies serve as an excellent source of information for those wanting to go into greater depth on a specific topic. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
