Scanning electron microscopy physics (20 résultats)
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Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-UnisHPB-Red
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EUR 3,29 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1998
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Superbbooks, San Francisco, CA, Etats-UnisSuperbbooks
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EUR 4,38 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Fine. 2nd Edition. EXCELLENT Unmarked PAGES And BINDING And COVER. Hardback. No dust Jacket, as issued. From the library of a Lawrence Livermore physicist. Approximately 6 X 9 ½. 527 pages.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1998
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : SN Books Ltd, Thetford, Royaume-UniSN Books Ltd
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EUR 17,61 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : Very Good. Orders shipped daily from the UK. Professional seller.
Langue : anglais
Edité par Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Hübner Einzelunternehmen, Hamburg, HH, AllemagneHübner Einzelunternehmen
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EUR 150,00
EUR 41,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Pp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882.
Langue : anglais
Edité par Springer-Verlog, 1985
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Royaume-UniPhatpocket Limited
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EUR 230,01
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Etat : Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1998
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Etats-UnisBennettBooksLtd
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EUR 6,09 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
hardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
Langue : anglais
Edité par Springer, 1998
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Buchpark, Trebbin, AllemagneBuchpark
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EUR 105,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Gut. Zustand: Gut | Seiten: 544 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced curr…ents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 306,91
EUR 17,61 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 315,21
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Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 350,34
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 348,27
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-UnisCalifornia Books
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, Springer, 1998
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 374,49
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray… and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Springer Series in Optical Sciences, Livre 56 sur 235. Livre 56 sur 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 386,24
EUR 64,07 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents…, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
