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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
Vendeur : Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 27,76
Autre deviseEUR 12,25 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45) Second edition
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,74
Autre deviseEUR 3,86 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. 2nd edition, 543 pp., hardcover, very good. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Vendeur : -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 62,14
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 54,08
Autre deviseEUR 13,79 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, 1985
ISBN 10 : 3540135308 ISBN 13 : 9783540135302
Langue: anglais
EUR 52,42
Autre deviseEUR 22,50 expédition depuis France vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 1985. Tome 45. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 1985. Volume 45. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 80,94
Autre deviseEUR 3,22 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Vendeur : Robert Fulgham, Bookseller, Idaho Falls, ID, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 97,29
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierSoft cover. Etat : Near Fine. 2nd Edition. Near Fine softcover. Previous owner's name and date on the first page, else Fine Clean, bright and tight. No writing or other marks. We wrap and box our books for shipping.
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par Springer-Verlag GmbH & Co. KG, 1985
ISBN 10 : 3540135308 ISBN 13 : 9783540135302
Langue: anglais
EUR 10,47
Autre deviseEUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Springer series in optical sciences ; Vol. 45
Edité par Berlin ; Heidelberg ; Tokyo ; New York ; Barcelona ; Budapest ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore : Springer, 1998
ISBN 10 : 3540639764 ISBN 13 : 9783540639763
Langue: anglais
Vendeur : Hübner Einzelunternehmen, Hamburg, HH, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 150
Autre deviseEUR 41 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPp. 2., completely rev. and updated ed. XIV, 527 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 882.
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Vendeur : BennettBooksLtd, San Diego, NV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 250,07
Autre deviseEUR 5,97 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 301,25
Autre deviseEUR 13,79 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764 ISBN 13 : 9783540639763
Langue: anglais
EUR 232,39
Autre deviseEUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764 ISBN 13 : 9783540639763
Langue: anglais
EUR 232,39
Autre deviseEUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 360,22
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 373,22
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 388,16
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10 : 3642083722 ISBN 13 : 9783642083723
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 353,09
Autre deviseEUR 64,07 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Edité par Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 1998
ISBN 10 : 3540639764 ISBN 13 : 9783540639763
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 353,09
Autre deviseEUR 64,88 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
