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Pays
Evaluation du vendeur
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Semiconductor Material and Device Characterization
Edité par Wiley & Sons, Incorporated, John, 1998
ISBN 10 : 0471241393 ISBN 13 : 9780471241393
Langue: anglais
Vendeur : Better World Books Ltd, Dunfermline, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 15,80
Autre deviseEUR 4,02 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. Ships from the UK. Former library book; may include library markings. Used book that is in excellent condition. May show signs of wear or have minor defects.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 5,89
Autre deviseEUR 13,95 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.15.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 5,89
Autre deviseEUR 13,95 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.15.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Edité par Wiley-Interscience (edition 2), 1998
ISBN 10 : 0471241393 ISBN 13 : 9780471241393
Langue: anglais
Vendeur : BooksRun, Philadelphia, PA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 10,48
Autre deviseEUR 9,49 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. 2. Ship within 24hrs. Satisfaction 100% guaranteed. APO/FPO addresses supported.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 5,89
Autre deviseEUR 13,95 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.15.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Edité par Wiley & Sons, Incorporated, John, 1990
ISBN 10 : 0471511048 ISBN 13 : 9780471511045
Langue: anglais
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8,11
Autre deviseEUR 13,34 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 12,49
Autre deviseEUR 17,70 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fair. No Jacket. Missing dust jacket; Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.73.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Edité par Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1990
ISBN 10 : 0471511048 ISBN 13 : 9780471511045
Langue: anglais
Vendeur : Bingo Books 2, Vancouver, WA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 41,81
Autre deviseEUR 30,22 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Near Fine. Etat de la jaquette : Near Fine. hardback book and dust jacket in near fine condition.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Feldman's Books, Menlo Park, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 40,03
Autre deviseEUR 34,55 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Fine. Second Edition. No markings.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : KuleliBooks, Phoenix, AZ, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 10,67
Autre deviseEUR 64,77 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. The book may have minor cosmetic wear (i.e. creased spine/cover, scratches, curled corners, folded pages, minor sunburn, minor water damage, minor bent). The book may have some highlights/notes/underlined pages - Accessories such as CD, codes, toys, may not be included - Safe and Secure Mailer - No Hassle Return.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Edité par John Wiley & Sons Inc, NY, 1990
ISBN 10 : 0471511048 ISBN 13 : 9780471511045
Langue: anglais
Vendeur : Feldman's Books, Menlo Park, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 44,48
Autre deviseEUR 34,55 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fine.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 8,29
Autre deviseEUR 71,03 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 12,49
Autre deviseEUR 71,03 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Toscana Books, AUSTIN, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 63,87
Autre deviseEUR 25,91 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 4,45
Autre deviseEUR 90,68 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 8,94
Autre deviseEUR 90,68 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Semiconductor Material and Device Characterization - 1st Edition/1st Printing
Edité par John Wiley & Sons, Inc., New York, 1990
ISBN 10 : 0471511048 ISBN 13 : 9780471511045
Langue: anglais
Vendeur : Books Tell You Why - ABAA/ILAB, Summerville, SC, Etats-Unis
Membre d'association : ABAA ILAB
Évaluation du vendeur 1 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 71,16
Autre deviseEUR 42,32 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Near Fine. Etat de la jaquette : Near Fine. First Edition; First Printing. A handsome first edition/first printing in Near Fine condition with previous owner's signature to front flyleaf in alike dust-jacket with light edgewear. [i-iv] v-vii [viii] ix-xv [xvi-xviii], 1-599 [600-6] pages; Book is written for graduate students and industrial researchers who want to learn more about the wide spectrum of measurement methods found in the modern semiconductor industry ; 8vo.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Toscana Books, AUSTIN, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 95,46
Autre deviseEUR 25,91 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Big River Books, Powder Springs, GA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 118,70
Autre deviseEUR 64,77 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : good. This book is in good condition. The cover has minor creases or bends. The binding is tight and pages are intact. Some pages may have writing or highlighting.
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Semiconductor Material And Device Characterization
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 187,21
Autre deviseEUR 17,23 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Semiconductor Material And Device Characterization
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 199,51
Autre deviseEUR 17,26 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
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Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 218,96
Autre deviseEUR 4,58 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
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Semiconductor Material And Device Characterization
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 205,44
Autre deviseEUR 17,23 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Semiconductor Material And Device Characterization
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 207,51
Autre deviseEUR 17,26 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Semiconductor Material and Device Characterization (Hardcover)
Edité par John Wiley & Sons Inc, Chicester, 2006
ISBN 10 : 0471739065 ISBN 13 : 9780471739067
Langue: anglais
Vendeur : CitiRetail, Stevenage, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 209,38
Autre deviseEUR 28,71 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Hardcover. This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques. Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including: Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topicsNew problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the material In addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter. Plus, two new chapters have been added: Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy.Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge. Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials. An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department. This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 249,10
Autre deviseEUR 10,16 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 800 Illus.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Edité par John Wiley and Sons Ltd, 2006
ISBN 10 : 0471739065 ISBN 13 : 9780471739067
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 250,36
Autre deviseEUR 3 expédition depuis Irlande vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Num Pages: 800 pages, illustrations. BIC Classification: TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 238 x 164 x 42. Weight in Grams: 1199. . 2006. 3rd Edition. Hardcover. . . . .
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Semiconductor Material and Device Characterization
Edité par Wiley & Sons, Wiley-IEEE Press, 2015
ISBN 10 : 0471739065 ISBN 13 : 9780471739067
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 251,52
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware - This Third Edition updates a landmark text with the latest findingsThe Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques.Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including:\* Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information\* 260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topics\* New problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the materialIn addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter.Plus, two new chapters have been added:\* Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy.\* Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge.Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials.
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Semiconductor Material and Device Characterization
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 267,11
Autre deviseEUR 7,77 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 800 Index 3rd Edition.
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Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 232,22
Autre deviseEUR 64,77 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
