Support vector machines pattern (57 résultats)
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Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Paperback or Softback. Etat : New. Pattern Recognition with Support Vector Machines: First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings. Book.
Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2002
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Paperback. Etat : New. 2002 ed. With their introduction in 1995, Support Vector Machines (SVMs) marked the beginningofanewerainthelearningfromexamplesparadigm.Rootedinthe Statistical Learning Theory developed by Vladimir Vapnik at ATandT, SVMs quickly gained attention from the pattern recognition community due to a n- beroftheor…eticalandcomputationalmerits.Theseinclude,forexample,the simple geometrical interpretation of the margin, uniqueness of the solution, s- tistical robustness of the loss function, modularity of the kernel function, and over?t control through the choice of a single regularization parameter. Like all really good and far reaching ideas, SVMs raised a number of - terestingproblemsforboththeoreticiansandpractitioners.Newapproachesto Statistical Learning Theory are under development and new and more e?cient methods for computing SVM with a large number of examples are being studied. Being interested in the development of trainable systems ourselves, we decided to organize an international workshop as a satellite event of the 16th Inter- tional Conference on Pattern Recognition emphasizing the practical impact and relevance of SVMs for pattern recognition.By March 2002, a total of 57 full papers had been submitted from 21 co- tries.Toensurethehighqualityofworkshopandproceedings,theprogramc- mitteeselectedandaccepted30ofthemafterathoroughreviewprocess.Ofthese papers16werepresentedin4oralsessionsand14inapostersession.Thepapers span a variety of topics in pattern recognition with SVMs from computational theoriestotheirimplementations.Inadditiontotheseexcellentpresentations, there were two invited papers by Sayan Mukherjee, MIT and Yoshua Bengio, University of Montreal.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2020
Série : Livre 7 sur 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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EUR 7,60 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
Etat : New. pp. 525.
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EUR 14,01 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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EUR 18,11 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
Paperback. Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2020
Série : Livre 7 sur 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 72,90
EUR 3,45 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 525 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2020
Série : Livre 7 sur 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
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Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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EUR 17,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
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Vendeur : Corner of a Foreign Field, Tokyo, TOKYO, JaponCorner of a Foreign Field
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EUR 71,18
EUR 10,37 expéditionExpédition depuis Japon vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Fine. No Jacket. 1st Edition. 2006.Hardcover.Fine.343 pages.Ships from Japan.Usually ships in 1-2 working days.
Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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EUR 66,64
EUR 17,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2020
Série : Livre 7 sur 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 75,06
EUR 14,01 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 101,07
EUR 3,45 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Used. pp. xiv + 343 1st Edition.
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Vendeur : Biblios, frankfurt am main, HESSE, AllemagneBiblios
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EUR 9,95 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Etat : Used. pp. xiv + 343.
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 63,30 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - With their introduction in 1995, Support Vector Machines (SVMs) marked the beginningofanewerainthelearningfromexamplesparadigm.Rootedinthe Statistical Learning Theory developed by Vladimir Vapnik at AT&T, SVMs quickly gained attention from the pattern…recognition community due to a n- beroftheoreticalandcomputationalmerits.Theseinclude,forexample,the simple geometrical interpretation of the margin, uniqueness of the solution, s- tistical robustness of the loss function, modularity of the kernel function, and over t control through the choice of a single regularization parameter. Like all really good and far reaching ideas, SVMs raised a number of - terestingproblemsforboththeoreticiansandpractitioners.Newapproachesto Statistical Learning Theory are under development and new and more e cient methods for computing SVM with a large number of examples are being studied. Being interested in the development of trainable systems ourselves, we decided to organize an international workshop as a satellite event of the 16th Inter- tional Conference on Pattern Recognition emphasizing the practical impact and relevance of SVMs for pattern recognition. By March 2002, a total of 57 full papers had been submitted from 21 co- tries.Toensurethehighqualityofworkshopandproceedings,theprogramc- mitteeselectedandaccepted30ofthemafterathoroughreviewprocess.Ofthese papers16werepresentedin4oralsessionsand14inapostersession.Thepapers span a variety of topics in pattern recognition with SVMs from computational theoriestotheirimplementations.Inadditiontotheseexcellentpresentations, there were two invited papers by Sayan Mukherjee, MIT and Yoshua Bengio, University of Montreal.
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Vendeur : BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Etats-UnisBennettBooksLtd
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EUR 129,66
EUR 6,00 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
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Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-UniRarewaves.com UK
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EUR 64,32
EUR 76,00 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Paperback. Etat : New. 2002nd.
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 145,73
EUR 29,23 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2014
Série : Livre 7 sur 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Couverture rigide
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 150,55
EUR 29,23 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Livre 13 sur 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 166,02
EUR 14,01 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Livre 13 sur 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 165,99
EUR 17,54 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Livre 13 sur 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 183,27
EUR 2,28 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2014
Série : Livre 7 sur 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-UnisCalifornia Books
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EUR 188,63
Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Chapman and Hall/CRC, 2014
Série : Livre 7 sur 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 179,11
EUR 14,01 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer London Ltd, GB, 2010
Série : Livre 13 sur 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Vendeur : Rarewaves.com USA, London, LONDO, Royaume-UniRarewaves.com USA
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EUR 212,14
Frais de port gratuitsExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Hardback. Etat : New. 2nd ed. 2010. Support Vector Machines are popular because of their high classification importance; this is the first book to focus the discussions on SVMs specifically to pattern classification.
Autres imagesLangue : anglais
Edité par Springer, 2012
Série : Livre 13 sur 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 140,10
EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Support Vector Machines for Pattern Classification | Shigeo Abe | Taschenbuch | Advances in Computer Vision and Pattern Recognition | xx | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781447125488 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at…]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
