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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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TESTING FOR SMALL-DELAY DEFECTS IN NANOSCALE CMOS INTEGRATED CIRCUITS
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Langue: anglais
Edité par Taylor & Francis Inc Okt 2013, 2013
ISBN 10 : 1439829411 ISBN 13 : 9781439829417
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware - Advances in design methods and process technologies are causing a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variation, power supply, noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DiM)-related rule violations. The book also addresses small-delay defects (SDDs) and testing, which can cause immediate failures if introduced on both critical and non-critical paths in the circuit.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advances in design methods and process technologies are leading to a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variations, power supply noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DfM)-related rule violations. The book also addresses testing for small-delay defects (SDDs), which can cause timing failures on both critical and non-critical paths in the circuit.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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