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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : thebookforest.com, San Rafael, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 75,49
EUR 3,40 shipping
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,79
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 123,06
EUR 3,40 shipping
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 135,05
EUR 3,40 shipping
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Trace-based Post-silicon Validation for Vlsi Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 147,37
EUR 11,39 shipping
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. reprint edition. 124 pages. 9.25x6.10x0.30 inches. In Stock.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 148,85
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Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 2013 edition. 136 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringEUR 94,05
EUR 70 shipping
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits | Xiao Liu (u. a.) | Taschenbuch | Previously published in hardcover | xv | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783319375946 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringLangue: anglais
Edité par Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2016
ISBN 10 : 3319375946 ISBN 13 : 9783319375946
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 109,94
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Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 160,71
EUR 28,47 shipping
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering (252))
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 173,61
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Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringLangue: anglais
Edité par Berlin Springer International Publishing Springer Aug 2016, 2016
ISBN 10 : 3319375946 ISBN 13 : 9783319375946
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
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Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices. 108 pp. Englisch.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 129,91
EUR 7,40 shipping
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 123.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringLangue: anglais
Edité par Springer International Publishing, 2013
ISBN 10 : 3319005324 ISBN 13 : 9783319005324
EUR 92,27
EUR 48,99 shipping
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validationOffers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transferIllustrate key c.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringLangue: anglais
Edité par Springer International Publishing, 2016
ISBN 10 : 3319375946 ISBN 13 : 9783319375946
EUR 93
EUR 48,99 shipping
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 133,03
EUR 9,95 shipping
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 141,70
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Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Livre 92 sur 548 : Lecture Notes in Electrical EngineeringVendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 144,94
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