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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain.
Langue: anglais
Edité par New York, Humana Press., 2016
ISBN 10 : 149398103X ISBN 13 : 9781493981038
Vendeur : Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Allemagne
Membre d'association : GIAQ ILAB VDA
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 12
Expédition à EUR 30
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 62,84
Expédition à EUR 2,32
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 70,58
Expédition à EUR 2,32
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 65,22
Expédition à EUR 7,53
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 76,43
Expédition à EUR 3,50
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 63,96
Expédition à EUR 17,38
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 67,62
Expédition à EUR 17,38
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 67,63
Expédition à EUR 17,70
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 73,77
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 73,01
Expédition à EUR 13,88
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Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser: Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex
Langue: anglais
Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10 : 6207641116 ISBN 13 : 9786207641116
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 77,28
Expédition à EUR 13,88
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 93,05
Expédition à EUR 11,59
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 164 pages. 9.18x6.12x9.21 inches. In Stock.
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 116,96
Expédition à EUR 2,32
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 119,35
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 124,92
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,62
Expédition à EUR 13,88
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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EUR 115,62
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,61
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Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser | Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex
Langue: anglais
Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10 : 6207641116 ISBN 13 : 9786207641116
EUR 67,10
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser | Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex | Orlando Castejon | Taschenbuch | Englisch | 2024 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786207641116 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu.
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![Image d'archives pour Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. mis en vente par BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-fr-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Langue: anglais
Edité par Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10 : 3540738851 ISBN 13 : 9783540738855
Vendeur : BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 99
Expédition à EUR 39,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 139,66
Expédition à EUR 3,50
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. XIV, 246 61 illus., 36 illus. in color. 1 Edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 129,80
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. 2018. Softcover reprint of the original 1st ed. 2016. paperback. . . . . .
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 128,86
Expédition à EUR 17,38
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 131,02
Expédition à EUR 10,50
Expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Editor(s): Van Bockstaele, Elisabeth Jeanne. Series: Neuromethods. Num Pages: 260 pages, 25 black & white illustrations, 36 colour illustrations, 5 black & white tables, biograph. BIC Classification: MJN; PSAN. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 254 x 178 x 16. Weight in Grams: 688. . 2016. Hardback. . . . .
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods)
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 148,41
Expédition à EUR 3,50
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 246.
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 154,01
Expédition à EUR 2,32
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 137,28
Expédition à EUR 17,95
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 140,24
Expédition à EUR 17,38
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 157,35
Expédition à EUR 2,32
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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EUR 95,15
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain | Elisabeth J. van Bockstaele | Taschenbuch | Neuromethods | xiv | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9781493981038 | Verantwortliche Person für die EU: Humana Press in Springer Science + Business Media, Heidelberger Platz 3, 14197 Berlin, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
