Montant total (1 article articles) :
Destination de la commande :
vlsi test principles architectures de wang laung terng (15 résultats)
Commentaires
Passer aux résultats principaux de la recherche
Filtres de recherche
Type d'article
- Tous les types de produits
- Livres (15)
- Magazines & Périodiques (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Bandes dessinées (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Partitions de musique (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Art, Affiches et Gravures (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Photographies (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Cartes (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Manuscrits & Papiers anciens (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Particularités
- Ed. originale (1)
- Signé (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Jaquette (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Avec images (2)
- Sans impressions à la demande (14)
Langue (1)
Livraison gratuite
- Livraison gratuite à destination de France (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Pays
Evaluation du vendeur
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Vendeur : Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Allemagne
Membre d'association : GIAQ ILAB VDA
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 16
Autre deviseEUR 10 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panier1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Vendeur : diakonia secondhand, München, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 40,66
Autre deviseEUR 12 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
-
VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Edité par Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10 : 0123705975 ISBN 13 : 9780123705976
Langue: anglais
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 69,04
Autre deviseEUR 11,12 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierHardcover. Etat : New.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 79,21
Autre deviseEUR 10,37 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xxx + 777 Illus.
-
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 81,49
Autre deviseEUR 11,72 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 99,40
Autre deviseEUR 7,70 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xxx + 777.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,39
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 3 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. xxx + 777.
-
VLSI Test Principles and Architectures
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 117,34
Autre deviseEUR 11,72 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Vendeur : SGS Trading Inc, Franklin Lakes, NJ, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 119,19
Autre deviseEUR 29,96 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Textbook, May Have Highlights, Notes and/or Underlining, BOOK ONLYNO ACCESS CODE, NO CD, Ships with Emailed Tracking.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 64,88
Autre deviseEUR 89,87 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 64,88
Autre deviseEUR 89,87 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Vendeur : BennettBooksLtd, North Las Vegas, NV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 122,35
Autre deviseEUR 37,66 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Vendeur : Toscana Books, AUSTIN, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 148,76
Autre deviseEUR 25,68 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Edité par Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10 : 1493300865 ISBN 13 : 9781493300860
Langue: anglais
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 319,84
Autre deviseEUR 29,29 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : New. New. book.
-
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 68,50
Autre deviseEUR 40 expédition depuis Italie vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : new. Questo è un articolo print on demand.
