Dubec viktor (4 résultats)
Langue : anglais
Edité par Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften AG Co. KG Jul 2015, 2015
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 69,90
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -For optimisation of devices and verification of device simulation models the knowledge of heat dissipation and of free carrier concentration in the device is essential. Non-destructive optical methods based on monitoring of the refracti…ve index, absorption or light emission have previously been developed for investigation of transient temperature or free carrier changes. However, these methods suffer either from small spatial or time resolution. Therefore two testing techniques based on transient interferometric mapping have been developed within this thesis: a two-dimensional multiple-time-instant single-shot technique and a two-beam technique with sub-nanosecond time resolution. 160 pp. Deutsch.
Langue : anglais
Edité par Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 2015
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 69,90
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. For optimisation of devices and verification of device simulation models the knowledge of heat dissipation and of free carrier concentration in the device is essential. Non-destructive optical methods based on monitoring…of the refractive index, absorption .
Langue : anglais
Edité par Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften Mär 2009, 2009
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 69,90
EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -For optimisation of devices and verification of device simulation models the knowledge of heat dissipation and of free carrier concentration in the device is essential. Non-destructive optical methods based on monitoring of the refractive i…ndex, absorption or light emission have previously been developed for investigation of transient temperature or free carrier changes. However, these methods suffer either from small spatial or time resolution. Therefore two testing techniques based on transient interferometric mapping have been developed within this thesis: a two-dimensional multiple-time-instant single-shot technique and a two-beam technique with sub-nanosecond time resolution.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 160 pp. Deutsch.
Langue : anglais
Edité par Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften AG Co. KG, 2009
- Couverture souple
- impression à la demande
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
Contacter le vendeurVendeur avec une évaluation de 5 étoilesEtat: Neuf
EUR 69,90
EUR 61,28 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - For optimisation of devices and verification of device simulation models the knowledge of heat dissipation and of free carrier concentration in the device is essential. Non-destructive optical methods based on monitoring of the refractive in…dex, absorption or light emission have previously been developed for investigation of transient temperature or free carrier changes. However, these methods suffer either from small spatial or time resolution. Therefore two testing techniques based on transient interferometric mapping have been developed within this thesis: a two-dimensional multiple-time-instant single-shot technique and a two-beam technique with sub-nanosecond time resolution.
